IC封裝紫外燈耐氣候試驗(yàn)箱說明：

    自然界的陽光和濕氣對(duì)材料的破壞，每年造成難以估計(jì)的經(jīng)濟(jì)損失，紫外光加速耐候試驗(yàn)機(jī)可以再現(xiàn)陽光、雨水和露水所產(chǎn)生的破壞。設(shè)備通過將待測(cè)材料曝曬放在經(jīng)過控制的陽光和濕氣的交互循環(huán)中，同時(shí)提高溫度的方式來進(jìn)行試驗(yàn)。設(shè)備采用紫外線熒光燈模擬陽光，同時(shí)還可以通過冷凝或噴淋的方式模擬濕氣影響。

只需要幾天或幾周時(shí)間，設(shè)備可以再現(xiàn)戶外需要數(shù)月或數(shù)年所產(chǎn)生的破壞。所造成的損害主要包括退色、變色、亮度下降、粉化、龜裂、變模糊、脆化、強(qiáng)度下降及氧化。設(shè)備提供的測(cè)試數(shù)據(jù)在對(duì)新材料的選擇、對(duì)現(xiàn)有材料的改進(jìn)或評(píng)估影響產(chǎn)品耐用性的組成變化等方面有*的幫助。設(shè)備可以*地預(yù)測(cè)產(chǎn)品將在戶外遭遇的變化

IC封裝紫外燈耐氣候試驗(yàn)箱結(jié)構(gòu)及材料 

  ·箱體材料：內(nèi)外殼均為SUS304不銹鋼板

  ·加濕器：UL型電熱器

  ·加熱器：不銹鋼鰭片散熱管

  ·樣品架：不銹鋼樣品架 

·樣品架與燈距離：55±3mm 

IC封裝紫外燈耐氣候試驗(yàn)箱溫濕控制系統(tǒng)： 

   ·采用PID數(shù)顯儀表

   ·Pt100測(cè)試傳感器 

更多模擬環(huán)境測(cè)試設(shè)備請(qǐng)登陸：http://.ybzhan./st45714 .gdwcjx。。