低溫試驗箱結構特征:

本設備主要由箱體、制冷系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、加濕系統(tǒng)、空氣循環(huán)系統(tǒng)以及控制系統(tǒng)組成。箱體的外殼為采用冷軋鋼板靜電噴塑，內膽采用不銹鋼板，箱門中間設大面積觀察窗，并配有觀察燈，使用戶可以清晰地看到試樣的試驗情況。外型整體美觀大方。保溫層為硬質聚氨脂發(fā)泡加上少量的超細玻璃棉試驗箱，具有強度高，保溫性有好等特點。本設備采用標準化多功能設計、有程序運行和恒定運行功能。主控制儀采用韓國進口觸摸屏溫濕度控制儀，液晶LCD顯示，具有通訊接口，大容量程序，操作簡單，用戶可自定義溫、濕度控制曲線進行溫濕度試驗。升溫、降溫、加濕、去濕獨立，*的BTSC平衡調溫調濕方式。具有定時功能。制冷系統(tǒng)采用全封閉進口壓縮機組，機械式單級制冷或復迭低溫回路系統(tǒng)，全自動控制與安全保護協(xié)調系統(tǒng)。加熱采用不銹鋼翅片加熱管，加濕采用不銹鋼加濕管，加濕方式為蒸汽加濕，水位自動控制。 

低溫試驗箱標準依據而制造的:

GB2423.1-89 電工電子產品基本試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法

GB2423.2-89 電工電子產品基本試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法

GB2423.3-91電工電子產品基本試驗規(guī)程 試驗Ca:恒定濕熱試驗方法

GB2423.4-91電工電子產品基本試驗規(guī)程 試驗Db:交變濕熱試驗方法

GB2424.1-89 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導則

GB 10589-89 低溫試驗箱技術條件

GB 10592-89 高低溫試驗箱技術條件

GB10586-89 濕熱試驗箱技術條件

GB 11158-89 高溫試驗箱技術條件

GB/T5170.2-1996 電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法 溫度試驗設備

GB/T5170.5-1996 電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法 濕熱試驗設備

GB2423.22-87 電工電子產品基本試驗規(guī)程 試驗N:溫度變化試驗方法

低溫試驗箱主要是針對于電工、電子產品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫、濕熱及其循環(huán)變化的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗。 

該試驗設備主要用于對產品按照標準要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、高溫高濕及其循環(huán)變化條件下，對產品的物理以及其他相關特性進行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產品的性能，是否仍然能夠符合預定要求，以便供產品設計、改進、鑒定及出廠檢驗用。

低溫試驗箱型號與參數

型號          ㎜ 工作尺寸           外型尺寸              

TS－100     450×450×500        1150×900×1650.

TS－225     500×600×750        1200×1100×1900            

TS－500     700×800×900        1350×1280×2200

TS－800     800×1000×1000      1450×1480×2300

TS－1000    1000×1000×1000      1650×1480×2300

低溫試驗箱技術指標: 

1 、溫度范圍：-70℃、-40℃、-20℃～ 150℃

2 、濕度范圍：30%～98%RH

3 、溫度波動度：±0.5℃

4 、溫度偏差：≤2℃

5 、濕度偏差： 2-3 %RH 

6 、升降溫速率：0.7～1℃/min