PCT高壓加速老化試驗箱是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。

      艾思荔PCT高壓加速老化試驗箱的安全裝置有：

      鍋內安全裝置：鍋門若未關緊則機器無法啟動。

      安全閥：當鍋內壓力超過大工作值主動排氣泄壓。

      雙重過熱保護裝置：當鍋內溫度過高時，機器嗚叫警

      報并主動切斷加熱電源。

      門蓋保護：ABS材質制成可防止操縱人員接觸燙傷。

      PCT高壓加速老化試驗箱的特點：

      具有主動加水功能并且在嘗試過程中水位過低時主動補水。

      嘗試過程主動運轉至完成結束，應用簡便。

      溫度克制：LED數字型溫度克制器可作準確嘗試溫度之設定、克制及顯現。

      計時器：LED數字型計時器，當鍋內溫度到達後才開始計時以確保嘗試*。

      的壓力／溫度表隨時顯現鍋內壓力與相對溫度。

      運轉時流水器主動排出未飽和蒸氣以達到蒸氣品質。

      一體成型矽膠門墊圈，氣密度良好，且應用壽命長。

      嘗試箱內經拋光處理經久耐用標致不沾污。

      PCT高壓加速老化試驗箱試驗LED光源衰退原因

      LED具有低電壓、低能耗、長壽命、高可靠性、易維護等優點，已成為照明行業的主流。雖然LED光源已逐步取代其他光源成為照明行業的主流，但其壽命及其可靠性仍有待提高，這已成為現階段的研究重點。

      LED光源可靠性通常采取PCT高壓加速老化試驗機進行一個溫度加速老化試驗，在LED樣品試驗中隨著老化時間的增長，會產生光衰退，而產生光衰退的原因有熒光粉、硅膠以及芯片的衰減。