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產(chǎn)品型號
品 牌
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地東莞市
聯(lián)系方式:陳偉查看聯(lián)系方式
更新時間:2021-03-26 16:40:55瀏覽次數(shù):410次
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IC半導體冷熱沖擊試驗儀 集成電路板高低溫循環(huán)機
沖杯試驗機
沖杯試驗機|技術詳情:
目的:加速應力試驗加速壽命試驗環(huán)境應力篩選試驗(ESS)
試驗標準:MIL-STD-202Method107IEC60749-25JEDECJESD22-A104-bIEC68-2-1MIL-STD-2164-85
※試驗環(huán)境:比使用環(huán)境更嚴酷極限使用環(huán)境
※試樣:零部件元器件,焊點(BGA,CSP)成品
※試樣尺寸:小比較大 (:)
※試驗方法:溫度沖擊試驗溫度循環(huán)試驗
※試驗溫度范圍:-40(-55)~125(150)℃、-40(-65)~125(150)℃、-40(-0)~100℃
※工作室尺寸:內(nèi)箱尺寸W×H×D600×850×800cm
※外箱尺寸W×H×D1200×1700×1300cm
|溫度變化率:
※槽法:大于30℃/分鐘(空氣)
※槽法:大于50℃/分鐘(空氣)
※槽法:小于15℃/分鐘(試樣)
※槽法:小于20℃/分鐘(空氣)
|溫度循環(huán)試驗:
※溫度循環(huán)就是將試驗樣品曝露于予設的高低溫交替的試驗環(huán)境中。
※為避開溫度沖擊影響,試驗時的溫度變化率必須小于20℃/分鐘。
※同時,為達到蠕變及疲勞損傷的效果,試驗溫度循環(huán)為25℃~100℃,或者也可根據(jù)產(chǎn)品的用途使用0℃~
100℃的循環(huán)試驗,曝露時間為各15分鐘。
※環(huán)境應力篩選試驗(ESS=EnvironmentalStressScreening):
※對產(chǎn)品施加環(huán)境應力促使早期失效產(chǎn)品存在的潛在缺陷盡快而予以剔除。ESS不是加
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