3938掃描電遷移率粒徑譜儀產(chǎn)品詳情

TSI 的掃描電遷移率粒徑譜儀廣泛用于測量空氣中的顆粒尺寸分布的標(biāo)準(zhǔn)。這一系統(tǒng)也經(jīng)常用來使懸浮在液體中的顆粒的顆粒尺寸的測量精度。美國國家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究所（ NIST ）使用一個(gè)TSI DMA 尺寸為 60 nm 和 100 nm 的標(biāo)準(zhǔn)尺寸的參考材料。電遷移率粒徑譜儀是一個(gè)謹(jǐn)慎的粒徑譜儀技術(shù)，數(shù)濃度沒有假設(shè)的粒度分布的形狀直接測量。該方法是獨(dú)立的顆粒或流體的折射率，并具有高度的尺寸精度和測量重復(fù)性。 TSI 模型 3938 是電遷移率粒徑譜儀的第三代；可信的研究人員超過 30 年。

3938掃描電遷移率粒徑譜儀特點(diǎn)和優(yōu)點(diǎn)

•高分辨率數(shù)據(jù)：多達(dá) 167 個(gè)通道

•廣泛的尺寸范圍：從 2.5 nm 到 1000 nm

• ISO 15900:2009 兼容

•快速測量：＜ 10 秒掃描

•寬的濃度范圍內(nèi)， 107 個(gè)顆粒每立方厘米

Z大的靈活性•組件的設(shè)計(jì)

沒有電腦的操作所需的•觸摸屏控制

•易于安裝與不安裝工具和自動發(fā)現(xiàn)部件

•離散粒子測量：適用于多模樣本

•獨(dú)立的顆粒和流體的光學(xué)性質(zhì)

•寬范圍的系統(tǒng)的選擇：水或丁醇 CPC 選擇；傳統(tǒng)的或非放射性中和劑的選擇

應(yīng)用

•納米技術(shù)研究和材料的合成

•大氣研究和環(huán)境監(jiān)測

•燃燒和發(fā)動機(jī)排氣的研究

•室內(nèi)空氣質(zhì)量的測量

•核 / 冷凝的研究

•吸入毒理學(xué)研究

內(nèi)容包括

•靜電分類器與您選擇的 DMA 柱

•氣溶膠儀器 ® 軟件

數(shù)據(jù)采集計(jì)算機(jī)必須單獨(dú)購買。