涂鍍層測厚儀minitest740更換不同探頭既可測小工件，薄涂層，也可厚涂層，zui大測量到15mm，選購件F1.5/N0.7/FN1.5探頭用測量支架

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涂鍍層測厚儀minitest740-主機技術參數：
特性
探頭類型 內置外置可換
數據記憶組數 100
存儲數據量 zui多100,000個
極限值監控 聲、光報警提示超過極限
測量單位 um，mm，cm；mils，inch，thou
操作溫度 -10℃-60℃
存放溫度 -20℃-70℃
數據接口 IrDA 1.0（紅外接口）
電源 2節AA電池
標準 DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840
ASTM B244，B499，D7091，E376
AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC-PA 2
體積 157mm x 75.5mm x 49mm
重量 約175g 約210g 約175g（內置）/230g（外置）
大存儲量，能存儲10或100組多達100,000個讀數
讀數和統計值能單獨調出
超大，背光顯示屏，顯示內容可180度旋轉
統計值 讀值個數，zui小值，zui大值，平均值，標準方差，變異系數，組統計值（標準設置/自由配置）
校準程序符合標準和規范 ISO，SSPC，瑞典標準，澳大利亞標準
校準模式 出廠設置校準，零點校準，2點校準，3點校準，使用者可調節補償值
 

-優點：

1.菜單指引操作，25種語言可選
2.帶IrDA接口，紅外線傳輸數據到打印機和PC
3.可下載更新軟件
4.FN探頭自動識別基體，使測量更迅速，避免操作錯誤
5.溫度補償功能避免溫度變化引起的錯誤
 

-探頭：

F1.5，N0.7，FN1.5 F2 F5，N2.5，FN5 F15
探頭 
特性 F N F F N F
讀值）
低端分辨率 0.05μm 0.1μm 1μm
zui小曲率半徑（凸） 1.0mm 1.5mm 5mm
zui小曲率半徑（凹，外置探頭） 7.5mm 10mm 25mm
zui小曲率半徑（凹，內置探頭） 30mm 30mm 30mm
zui小測量面積 Φ5mm Φ10mm Φ25mm
zui小基體厚度 0.3mm 40μm 0.5mm 0.5mm 40μm 1mm
連續模式下測量速度 每秒20個讀數
單值模式下zui大測量速度 每分鐘70個讀數
測量范圍 0-1.5mm 0-0.7mm 0-2mm 0-5mm 0-2.5mm 0-15mm
使用范圍 小工件，薄涂層，跟測量支架一起使用 粗糙表面 標準探頭，使用廣泛 厚涂層
測量原理 磁感應 電渦流 磁感應 磁感應 電渦流 磁感應
信號處理 探頭內部32位信號處理（SIDSP）
精確度 ±（1μm+0.75%讀值） ±（1.5μm+0.75%讀值） ±（5μm+0.75%讀值）
重復性 ±（0.5μm+0.5%讀值） ±（0.8μm+0.5%讀值） ±（2.5μm+0.5%
標準配置：                                   
帶塑料手提箱，內含：                                                                               
--或MINITEST740主機（不含探頭，有各種探頭可選）
-校準套裝含校準片和零板
-操作使用說明CD，德語、英語、法語、西班牙語
-2節AA電池