超聲波測(cè)厚儀MG2是測(cè)量有內(nèi)部腐蝕的部件zui為理想的便攜式測(cè)厚儀，包括MG2/MG2-XT/MG2-DL超聲波測(cè)厚儀。

超聲波測(cè)厚儀MG2使用雙晶探頭,從被測(cè)物體的一面就可以測(cè)量被腐蝕、有凹痕、被氧化或呈粒狀等其它較難測(cè)量物體的厚度。
-技術(shù)參數(shù)：

測(cè)量溫度 -20-500℃
增益調(diào)整 無(wú)
自動(dòng)增益優(yōu)化 無(wú)
回波回波 無(wú)
差分測(cè)量 無(wú)
穿透涂層 無(wú)
高低報(bào)警 無(wú)
數(shù)據(jù)存儲(chǔ) 無(wú)
USB接口 無(wú)
電池 AA電池×3工作125小時(shí)
外型尺寸 84×152.4×39.6mm
重量 0.34kg
技術(shù)規(guī)格 MG2
顯示屏 液晶顯示（帶背光）
測(cè)量范圍 0.5---635mm
聲速范圍 0.762-13,999mm/μsec
顯示精度 0.1/0.01mm
凍結(jié)模式 有
顯示保留/空白 有
zui大/zui小值 有
探頭自動(dòng)識(shí)別 有
零位補(bǔ)償 有
測(cè)量速度 2點(diǎn)/秒;20點(diǎn)/秒
工作溫度 -10-50℃　

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