超聲波測厚儀MG2-DL使用雙晶探頭,從被測物體的一面就可以測量被腐蝕、有凹痕、被氧化或呈粒狀等其它較難測量物體的厚度。
超聲波測厚儀MG2-DL-技術參數：

◆增益調整 有
◆自動增益優化 有
◆回波回波 有
◆差分測量 有
◆穿透涂層 有
◆高低報警 有
◆數據存儲 有（5000個厚度值）
◆USB接口 有
◆電池 AA電池×3工作125小時
◆外型尺寸 84×152.4×39.6mm
◆重量 0.34kg
◆技術規格 MG2-DL
◆顯示屏 液晶顯示（帶背光）
◆測量范圍 0.5---635mm
◆聲速范圍 0.762-13,999mm/μsec
◆顯示精度 0.1/0.01mm
◆凍結模式 有
◆顯示保留/空白 有
◆zui大/zui小值 有
◆探頭自動識別 有
◆零位補償 有
◆測量速度 2點/秒;20點/秒
◆工作溫度 -10-50℃

是測量有內部腐蝕的部件zui為理想的便攜式測厚儀，包括MG2-DL/MG2-DL-XT/MG2-DL-DL超聲波測厚儀。

更多此類型的產品請點擊進入超聲波測厚儀目錄挑選產品對比參照，選擇您所需要產品的型號訂貨。咨詢: