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E+hiTHERM TM401熱電阻溫度計
iTHERM TM401
熱電阻(RTD)溫度計，適用于衛生和無菌應用場合
公制型儀表，采用通用技術
適用于所有標準應用場合，帶固定不可更換鎧裝 芯子
應用
• 專門設計用于食品&飲料和生命科學行業中的衛生和無菌應用場合
• 測量范圍為–50…+200 °C (–58…+392 °F)
• Z大壓力為 50 bar (725 psi)
• Z高防護等為 IP69K
• 可以在非防爆區域中使用
模塊化變送器
相比于不經過溫度變送器而直接接線的測量方法，Endress+Hauser 能為用戶提供 高測量精度、高測量可靠性的溫度變送器。根據實際工況條件，選擇下列信號輸出 和通信方式：
4…20 mA HART®模擬量輸出
優勢
• 高性價比和發貨迅速
• 用戶友好且可靠的從產品選型至維護過程
• 認證：衛生型標準，符合 3-A®認證、EHEDG 測試、ASME BPE 認證、FDA 認證、TSE 適用性認證
• 提供多種過程連接
測量原理
熱電阻(RTD)
熱電阻采用符合 IEC 60751 標準的 Pt100 溫度傳感器。溫度傳感器為溫度敏感性鉑熱電阻，阻抗 為 100 ? (0 °C (32 °F)時)，溫度系數為 α = 0.003851 °C-1。
通常，有兩種不同類型的鉑熱電阻：
• 繞線式(WW)：由兩根細的高純度鉑絲在陶瓷載體內繞制而成，并通過陶瓷保護層在載體頂部 和底部對鉑絲進行密封處理。此類熱電阻具有高可重現性，過程溫度高達 600 °C (1112 °F)時， 仍能保證良好的阻抗-溫度關系的長期穩定性。繞線式(WW)熱電阻的體積較大，抗振性較差。
• 薄膜式鉑電阻溫度計(TF)：在真空狀態下，將厚度約為 1 μm 的超高純度鉑層汽化固定在陶瓷基 板上，光刻制作而成。由此構成的鉑導體形成測量阻抗。附加覆蓋層和鈍化層可靠保護薄鉑 層，防止高溫條件下出現氧化和污染。
薄膜式(TF)熱電阻與繞線式(WW)熱電阻相比，突出優點為較小的體積和較好的抗振性。高溫條件 下，薄膜式(TF)熱電阻的阻抗-溫度關系偏差較小，符合 IEC 60751 標準。因此，薄膜式(TF)熱電阻的溫度測量誤差可達溫度等 A，符合 IEC 60751 標準(Z高溫度約為 300 °C (572 °F))。所以， 薄膜式(TF)熱電阻通常僅在溫度低于 400 °C (752 °F)的條件下測量。
Endress+Hauser 提供用于溫度測量點的整套優化部件，包括將測量點無縫集成至整個工廠中的所 有所需部件。包括：
• 電源單元/隔離柵
• 顯示單元
• 過電壓保護單元
上海愛麟自動化設備有限公司一直以售后全程跟蹤，用心服務每一位消費者為行業準則，定時定點為每一位購買上海愛麟自動化設備有限公司產品的每一個用戶提供免費的專業產品檢測檢修服務。公司已通過多項安全認證，服務客戶上千家，有良好的業界口碑和專業技能。E+hiTHERM TM401熱電阻溫度計
E+hiTHERM TM401熱電阻溫度計
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