隨著時間的流逝，我們也從中學到了經驗，淘到了知識。當客戶為我們建議時，我們也會分析并進行查找其中的來龍去脈。發現在自己的設備有什么不足的地方時也會積極的進行修改，以求達到更加的設備供應給客戶。

　　隨著半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間，采用了的壓力蒸煮鍋試驗方法。壓力蒸煮鍋試驗方法主要分成兩種類型：即PCT和USPCT（HAST）現在壓力蒸煮鍋試驗作為濕熱加速試驗被IEC（電工委員會）所標準化。注意事項：USPCT現在稱為HAST（高度加速應力試驗）。

高壓加速老化試驗箱是提高環境應力（如：溫度）與工作應力（施加給產品的電壓、負荷.等），加快試驗過程，縮短產品或系統的壽命試驗時間。用于調查分析何時出現電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。

　　現在高壓加速老化試驗箱工作室為圓筒狀，在工作室的底部可存水，另配置加熱管，在做試驗時把水燒成蒸汽，水因蒸發產生壓力，達到箱內壓力越大箱門越緊的反壓效果。以達到產品試驗所要求的溫度，濕度，壓力條件。高壓加速老化試驗箱采用全自動補充水位之功能,試驗中斷.試驗過程的溫度、濕度、壓力，是真正讀取相關傳感器的讀值來顯示的，而不是通過溫濕度的飽和蒸汽壓表計算出來的，能夠真正掌握實際的試驗過程。高壓加速老化試驗箱采用干燥設計，試驗終止采用電熱干燥設計確保測試區（待測品）的干燥，確保穩定性。的壓力/溫度對照顯示，*符合溫濕度壓力對照表要求。