冷熱沖擊實(shí)驗(yàn)箱適用于國防工業(yè),航空工業(yè)、兵工業(yè)、自動(dòng)化零組件、汽車部件、電子電器儀表零組件、電工產(chǎn)品、塑膠、化工業(yè)、食品業(yè)、 BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品等設(shè)備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)（沖擊），適應(yīng)于儀器、儀表、電工、電子產(chǎn)品整機(jī)及零部件等作溫度快速變化或漸變條件下反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組無一不需要它的理想測試工具。

冷熱沖擊實(shí)驗(yàn)箱執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)

1. GB10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
2. GB11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
3. GB10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
4. GB2423.1 低溫試驗(yàn)、試驗(yàn)A；
5. GB2423.2 高溫試驗(yàn)、試驗(yàn)B；
6. GB2423.22 溫度變化試驗(yàn),試驗(yàn)N；
7. IEC68-2-14 試驗(yàn)N；
8. 國軍標(biāo)GJB150.3-86；
9. 國軍標(biāo)GJB150.4-86；    
10.GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法；
11.GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法；

技術(shù)參數(shù)

1.沖擊溫度范圍：-40℃～ 150℃, -55℃～ 150℃,-65℃～ 150℃。

2.高溫槽溫度上限：170℃。
3.低溫槽溫度下限：-65℃。 
4.溫度偏差：±2℃。 
5.溫度波動(dòng)度：±0.5℃。 
6.溫度恢復(fù)時(shí)間：5min 
7.溫度恢復(fù)條件：高溫150℃曝露30min低溫-40℃曝露30min，
高溫150℃曝露30min低溫-55℃曝露30min,高溫150℃曝露30min低溫-65℃曝露30min。

8.試品轉(zhuǎn)移方式：采用氣動(dòng)。 
9.試品重量：≤3kg。
10.高溫室升溫時(shí)間：30min （ 25℃～ 170℃）。 
11.低溫室降溫時(shí)間：75min （ 25℃～-65℃）。 
12.噪音：（dB）≤65。 
13.使用電源：AC380V，50/60Hz。