母合金精密電阻率測試儀

型號：LDX- JH-WSP-21

硅料分選檢驗綜合儀是我公司一款專門為拉單晶廠和多晶鑄錠廠商硅料分選、檢驗、檢測而設(shè)計研發(fā)的。它可以快速準(zhǔn)確測量硅料的電阻率。可以檢測所有類型的硅料：母合金摻雜濟(jì)電阻率檢測可以精確到0.0001-199.99Ω﹡㎝，及各種碎片料、米粒料、片料，塊料，頭尾料、堝底料、邊皮料等等。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

■電阻率測量：大屏幕清晰顯示硅料電阻率值，方便檢料工快速分選

■ 電流測量：本儀器采用*芯片技術(shù)，可通過調(diào)節(jié)硅材料厚度，儀器可直接鎖定電流，使測量使用更加簡便準(zhǔn)確，本儀器可根據(jù)需要配備測試平臺， 利用測試平臺可以測試薄片電阻率

■ 四探針：一次測量，顯示完整電阻率值。

■ 采用了*的恒流源技術(shù)，能夠滿足寬范圍的電阻率測試要求

推薦工作條件

■ 溫度：23±2℃

■ 濕度：60%~70%

■ 無強(qiáng)磁場、不與高頻設(shè)備鄰近

 技術(shù)指標(biāo):

■ 高阻電阻率量程：0.01~199.99Ω﹡㎝　　低阻電阻率量程：0.0001~1.9999Ω﹡㎝　

■ 高阻測量精度：精確到十分位（即精確到小數(shù)點(diǎn)后一位）

   低阻測量精度：精確到千分位（即精確到小數(shù)點(diǎn)后四位）

   注：低阻一般用于測量低于0.1  0Ω﹡㎝以下硅料，如母合金，高于0.1  0Ω﹡㎝一般用高阻測量。

使用方法：

接好電源線，將儀器接上220V交流電，供電，若無電則需要檢查或更換在儀器后面的電源插頭處的保險絲，規(guī)格為1A,或檢查電源線是否插好。

電阻率測量：

低阻測試：

1，面板高阻低阻切換撥動開關(guān)指向低阻方向，通過按動面板綠色按鈕，使面板數(shù)顯表小數(shù)點(diǎn)調(diào)到0.0000狀態(tài)，測量時顯示為電阻率值，

2，校厚：四探針針頭壓住待測樣片，根據(jù)所測硅料厚度調(diào)動按鈕至所要求厚度，

按鍵調(diào)動開關(guān)調(diào)動硅材料厚度，硅材料厚度小于3.98mm按實(shí)際厚度對照厚度調(diào)節(jié)按鈕調(diào)節(jié)，如2.18就調(diào)到218，厚度大于3.98的都調(diào)到3。98，厚度調(diào)好后直接測試即可

高阻測試：

1，面板撥動開關(guān)指向高阻方向，面板數(shù)顯表小數(shù)點(diǎn)調(diào)到000。00狀態(tài)，不需按動綠色按鈕。

2，校準(zhǔn)設(shè)備：所測硅材料厚度小于3.98mm的對照國家標(biāo)準(zhǔn)電阻率電流修正系數(shù)表來調(diào)動儀器上方電流表，根據(jù)厚度所對應(yīng)的電流系數(shù)來調(diào)節(jié)電流表，厚度大于3.98mm的電流統(tǒng)一調(diào)到0.6283即可。

    測試四探針筆維護(hù)：

1一般情況下，更換鋼針之類，不需要拆開探頭，只需要用拔出要更換的鋼針，再重新安裝新針，如果斷針在孔內(nèi)并且不拆開難以取出，必須按照以下步驟進(jìn)行操作：

A先松開筆身尾部端側(cè)面的固定小螺絲，輕輕脫下尾部航空插口，保證探針頭部旋轉(zhuǎn)時同步旋轉(zhuǎn)，防止扭線斷線，短接，

B輕輕擰開探針頭子，然后小心將銅片拉出，記住七片絕緣片與銅片之間的位置，（四片銅片每片見夾一片絕緣片，兩邊的銅片外側(cè)各兩片），將斷針從銅片卡口座里取下即可，

C特別注意一定不能將銅片取下時的位置錯亂，銅片位置按照航空頭四芯1234接線綠紅黃黑的順序一字排列，并且銅片之間按照寬窄順序互相交叉排列，以免短接。

D安裝時銅片及絕緣片按照拆下時的排列輕輕塞進(jìn)探針頭子，并先將探針頭子擰緊，再將尾部航空頭插上，并且旋緊小螺絲，

E將針裝好，注意針頭針尾方向，尖頭為探針頭部

注意事項：

1儀器操作前請您仔細(xì)閱讀使用說明書，規(guī)范操作。

2輕拿輕放，避免儀器震動，水平放置，垂直測量，

3儀器不使用時請切斷電源，連接線無需經(jīng)常拔下，避免灰塵進(jìn)入航空插引起短接等現(xiàn)象

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