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產地	國產	加工定制	是

光電行業高低溫沖擊試驗箱主要適合用于電工電子電器機械等零組件、自動化零部件、防工業行業、航空航天研究所、兵工業、通訊產品或組件、汽車成品或配件、金屬材料、化學材料、五金塑料、LED、LCD光電、光伏、照明、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對冷、熱溫的快速反復抵抗力及工業產品處于熱脹冷縮的環境時所出現的化學變化或者物理傷害，可確認工業產品的質量,從的IC到重機械的組件，可作為工業行業眾多產品改進品質的依據或參考。以便考核產品的適應性或對測試產品的行為作出評價。是新產品研發、樣機實驗、產品合格鑒定試驗過程*的重要試驗手段。

型號與簡易參數：

沖擊試驗箱型號			AP-CJ-80	AP-CJ-150	AP-CJ-250	AP-CJ-480
內箱尺寸			50×40×40	60×50×50	70×60×60	80×80×75
外箱尺寸約（以實際尺寸為準）			161×178×166	183×178×188	192×205×200	202×225×215
高箱儲存箱預熱溫度范圍			-60℃～+200℃
低溫儲存箱預冷溫度范圍			-10℃～-55℃；-10℃～-65℃；-10℃～-75℃；
測試塑料產品可選擇溫度范圍			高溫：RT～+150℃
			低溫：RT～-40℃；RT～-55℃；RT～-65℃；
性能	溫度穩定度		±2℃
	移動與歸復時間		移動時間約10秒鐘，恢復時間約3~5 min
	高箱儲存箱升溫時間	℃	150	150	150	150
		min	40	40	40	40
	高箱儲存箱降溫時間	℃	-55 -65 -75	-55 -65 -75	-55 -65 -75	-55 -65 -75
		min	70 80 90	80 90 100	90 100 110	100 110 120

光電行業高低溫沖擊試驗箱滿足的標準有以下:
GB/T2423.1-2008 電工電子產品環境試驗 2部分試驗方法試驗A 低溫;GJB360.7-87溫度沖擊試驗;GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環境試驗 2部分:試驗方法試驗B:高溫;GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術條件;GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術條件;GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術條件;GB/T 2423.22-2002溫度變化;GB/T 5170.1-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法總則;SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗箱——箱式；SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱——二箱式;GB/T5170.2-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法溫度試驗設備;GB2424.1 電工電子產品環境試驗高低溫試驗導則;GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導則

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