當前位置:深圳市善時儀器有限公司>> IEDX-150T進口電鍍 鍍層厚度分析儀-測厚儀
測量范圍 | 元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U) | 測量精度 | 0.01UM |
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外形尺寸 | 526×637×484mm | 重量 | 40kg |
1、儀器主要組件
組件 | 描述 | 參數 | 備注 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
直流電源 | 電壓 | 220V 50/60Hz | 中國臺灣產 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
功率 | 600W | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
X高壓電源 | 輸入電壓 | 24V | 美國產 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
總功率 | 50W | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
輸出電壓 | 0-50KV | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
輸出電流 | 0-2mA | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
X光管 | 管電壓 | 4-50KV | 美國產 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
管電流 | 0-1mA | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
功率 | 50W | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
靶材 | Mo、W、Rh | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
聚焦點 | 100um | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
探測器 | 類型 | 硅漂移SDD | 美國產 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
冷卻方式 | 電子制冷 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
分辨率 | 125±5eV | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
檢測面積 | 25mm2 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Be窗 | 0.3-0.5mil | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
準直器 | 直徑(mm) | 0.1,0.2,0.3,0.5,1,4.5 | 自動切換 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
濾片 | 材料 | Ti,Al, Ni, Mo |
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攝像頭 | 分辨率 | 1.3 million |
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控制系統 | 計算機 | 具有USB接口的PC機 | 聯想商務機 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
CPU | 雙核2.8G |
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內存\硬盤 | 2G\500G |
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控制板 | X光控制,機械動作控制 | 韓國產 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
外形尺寸 | 尺寸 | 526*637*484 | DxH | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
重量 | 75Kg |
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測試艙 | 尺寸 | 450*510*240mm(X*Y*Z) |
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平臺移動范圍 | 160mm*160mm*100mm(X*Y*Z) |
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樣品臺尺寸 | 320*250mm |
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平臺zui大負荷 | 20Kg |
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工作距離 | 工作間隙 | 5mm |
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| 操作系統 | windoP,win7 |
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分析軟件 | MultiRay,FP算法 | 韓國/sense
2、鍍層檢測: 2.1、常見金屬鍍層有:
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2.2、單層厚度范圍:
金鍍層0-8um,
鉻鍍層0-15um,
其余一般為0-30um以內,
可zui小測量達0.001um。
2.3、多層厚度范圍
Au/Ni/Cu : Au分析厚度:0-8um Ni分析厚度:0-30um
Sn/Ni/Cu: Sn分析厚度:0-30um Ni分析厚度:0-30um
Cr/Ni/Fe: Cr分析厚度0-15um Ni分析厚度:0-30um
2.4、鍍層層數為1-6層
2.5、鍍層精度相對差值一般<5%。
2.6、鍍層成分含量:Sn-Pb合金成分分析;Zn-Ni合金成分分析。
2.7、鍍層分析優勢:分析PCB金手指zui小尺寸可達0.2mm
單層分析精度,以Ni舉例:(相對差值)
Ni層厚度(um) | 保證精度 |
<1.0um | <5% |
1.0-5.0um | <3% |
5.0-10um | <3% |
10-20um | <3% |
>20.0um | <3%
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元素成分分析
3.1 鍍液分析,目前常見鍍液元素分析有:金、銀、錫、銅、鎳、鉻、鋅。
3.2 ROHS 和無鹵檢測,高性能SDD探測器可以精確檢測無鹵,實現鍍層與環保一機多用。
3.3 金屬成分分析,在檢測ROHS同時可檢測金屬中其他各元素成分含量。
3.4 檢測精度:
3.4.1、 Cr,Cd,Hg,Cu, Zn, Fe, Ni, Pb, Mn, W, Au, Ag, Sn等重金屬
檢測限達1ppm。
A. 檢測含量大于5%的元素穩定的測試讀取相對差值小于1%
B. 檢測含量在0.5~5%的元素穩定的測試讀取相對差值小于2%
C. 檢測含量在0.1~0.5%的元素穩定的測試讀取相對差值小于5%
D. 檢測含量低于0.1%的元素測試讀取相對差值變化率小于10%
5、報告打印:
可以PDF,Excel格式輸出報告,歷史數據查詢方便
6、安全使用,維護與保養
6.1、由于儀器非常精密,未經允許情況請不要打開儀器外殼,不要對X射線源和探測器進行改變,由用戶自身原因造成儀器損壞本公司將不負責任。
6.2、儀器安裝一定要平穩,儀器后面離墻距離不得小于30厘米,必須使用標準的220V交流電,電壓不穩情況要配備穩壓電源,插座必須接地良好,由用戶電源不合乎要求造成損失由用戶負責。
6.3、請不要用濕的手觸摸電源部分,帶水的手也不要碰儀器外殼以免發生觸電。
6.4、進行測量時,因為高電壓流至X射線源,儀器運行時,不要嘗試打開或觸摸蓋子。由于高電壓源必須通過自動運行或者遵循用戶指南中止。
6.5、儀器環境要求:儀器使用環境需清潔,溫度適宜15℃-28℃,濕度小于80%,電源:AC: 220V ±5V。
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