LG薄膜多層擠出各層測厚測試系統

儀器簡介：
 多層結構薄膜的厚度測量。光學法，安全且簡易。對高產出的質量控制和工藝監測，可以實現全自動測量。

LG薄膜多層擠出各層測厚測試系統

硬件：

試樣操作：全自動。可以對測量點的數量和各點之間的距離進行編程。測量寬度大至5cm，長度沒有限制。由軟件引導測量過程的移動和停止。

厚度范圍：
樣品大厚度650um（自動測量）
樣品大厚度1200um（手動測量）

尺寸重量：41（寬）x 26（深）x 23（高）cm；17kg

連接：電源90 – 260 V，50/60Hz（自動識別）。大電源消耗 80VA。
PC同USB連接

計算機配置：PC，顯示器，觸摸屏和打印機可選

軟件：

簡介：M-Flex32電腦用，運行環境Windows2000/XP/Vista/7。

各層厚度測量：
層數不限。寬范圍的信號分析和峰值搜索功能的自動測量。

報告輸出：厚度結構圖，數字報告和公差圖，亦可設定格式。