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| 產地 | 國產 | 加工定制 | 是 |
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產品簡介
詳細介紹
一、產品簡介：
高溫型雷達物位計測量儀表，測量zui大距離可達70米。天線被進一步優化處理，新型快速的微處理器可以進行更高速率的信號分析處理，使得儀表可以用于反應釜、固體料倉等一些復雜的測量條件。
二、高溫型雷達物位計產品特點：
1、天線尺寸小，便于安裝；非接觸雷達，無磨損，無污染。
2、幾乎不受腐蝕、泡沫影響；幾乎不受大氣中水蒸氣、溫度和壓力變化影響。
3、嚴重粉塵環境對高頻物位計工作影響不大。
4、波長更短，對在傾斜的固體表面有更好的反射。
5、波束角小，能量集中，增強了回波能力的同時又有利于避開干擾物。
6、測量盲區更小，對于小罐測量也會取得良好的效果。
7、高信噪比，即使在波動的情況下也能獲得更優的性能。
8、高頻率，是測量固體和低介電常數介質的選擇。
三、高溫型雷達物位計技術參數：
1、過程連接：G11/2螺紋或11/2NPT螺紋
2、介質溫度：-40-120℃
3、過程壓力：-0.1~0.3Mpa
4、精 度：±10mm
5、重復性：±2mm
6、頻率范圍：6.8GHz
7、防爆等級：Exia IIC T6 Gb
8、防護等級：IP67
9、信 號 輸 出：4—20mA/HART
四、測量范圍說明：
1. 頂部盲區是指物料zui高料面與測量參考點之間的zui小距離。
2. 底部盲區是指纜繩zui底部附近無法精確測量的一段距離。
3. 頂部盲區和底部盲區之間是有效測量距離。
注意：只有物料處于頂部盲區和底部盲區之間時，才能保證罐內物位的可靠測量。
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