CT加速壽命試驗機理論依據:電子元器件的失效原因與器件本身所選用的材料、材料之間、器件表面或體內、金屬化系統以及封裝結構中存在的各種化 學、物理的反應有關。器件從出廠經過貯存、運輸、使用到失效的壽命周期,*不在進行著緩慢的化學物理變化。在各種外界環境下,器件還會承受了各種 熱、電、機械應力,會使原來的化學物理反應加速,而其中溫度應力對失效zui為敏感。實踐證明,當溫度升高以后,器件劣化的物理化學反應加快,失效過程加速, 而Arrhenius模型就總結了由溫度應力決定的化學反應速度依賴關系的規律性,為PCT試驗機提供了理論依據。
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