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　　冷熱沖擊測試需要滿足很多試驗標準，本文以液體式冷熱沖擊試驗箱為例。
 

　　1. GB/T2423.1-2001低溫試驗方法；
 

　　2. GB/T2423.2-2001；
 

　　3. GB/T2423.22-1989溫度變化試驗N；
 

　　4. 國標，GJB150.3-86；
 

　　5. 國標，GJB150.4-86；
 

　　6. 國標，GJB150.5-86；
 

　　7. GJB150.5-86溫度沖擊試驗；
 

　　8. GJB360.7-87溫度沖擊試驗；
 

　　9. GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗；
 

　　10. SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱----二箱式；
 

　　11. 滿足標準IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化；
 

　　12. GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導則；
 

　　13. GB/T 2423.22-2002溫度變化；
 

　　14. QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗一般規(guī)則；
 

　　15. EIA 364-32熱沖擊(溫度循環(huán))測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估。

　　以上未提到的，關(guān)于冷熱沖擊測試中，引起溫度變化及溫度變化的現(xiàn)場條件在“GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗 第2部分 試驗N:溫度變化”中有提到：
 

　　溫度變化的現(xiàn)場條件
 

　　電子設(shè)備和元器件中發(fā)生溫度變化的情況很普遍。當設(shè)備未通電時，其內(nèi)部零件要比其外表面上的零件經(jīng)受的溫度變化慢。
 

　　下列情況下，可預見快速的溫度變化：
 

　　——當設(shè)備從溫暖的室內(nèi)環(huán)境轉(zhuǎn)移到寒冷的戶外環(huán)境，或相反情況時；
 

　　——當設(shè)備遇到淋雨或浸入冷水中而突然冷卻時；
 

　　——安裝于外部的機載設(shè)備中；
 

　　——在某些運輸和貯存條件下。
 

　　通電后設(shè)備中會產(chǎn)生高的溫度梯度，由于溫度變化，元器件會經(jīng)受應力，例如，在大功率的電阻器旁邊，輻射會引起鄰近元器件表面溫度升高，而其他部分仍然是冷的。
 

　　當冷卻系統(tǒng)通電時，人工冷卻的元器件會經(jīng)受快速的溫度變化。在設(shè)備的制造過程中同樣可引起元器件的快速溫度變化。溫度變化的次數(shù)和幅度以及時間間隔都是很重要的。