產品介紹：

由于振動或空氣湍流干擾,進行大量光學器件測試或復雜的光學系統的準確度干涉測量是很困難的。使用所謂的"實時"相位測量干涉儀經常是碰運氣或不成功的。4D Technology的PhaseCam系列是進行大量光學器件測試或復雜的光學系統的準確度干涉測量的完善的解決方法。PhaseCam NIR系統可進行準確的表面和波前測量，結構緊湊，重量輕，近紅外波長（1.053，1.064和1.3微米1:55）。進行干涉測量的器件可分別安裝在較遠并且無防震功能的光學平臺, PhaseCam也可以容易得到高質量的測量,這歸功于PhaseCam的快速測量能力使它很容易降低空氣湍流產生的影響,更大量降低了測試周期,提高生產率。讓您不須再因為環境的影響而犧牲了準確度。 

參數：

波長：1.053到1.064微米

配置：光纖耦合頭和源模塊

測量頭尺寸：小

傳感器：1000 x 1000 px

控制：電動

應用：長距離，遠程安裝，NIR波長的大型焦點光學器件

4D Technology的PhaseCam NIR和IR激光干涉儀可提供1.053到10.6微米波長的球形和平面IR光學器件和系統的準確表面和波前測量。這些儀器的采集時間不到30微秒，對振動和空氣湍流不敏感，可以在困難的環境中使用，例如生產車間，潔凈室和環境測試室。