每個厚度測量儀器都有一個臨界厚度，如果厚度大于這個厚度，則測量不受母材厚度的影響；它對試件表面形狀的突變很敏感，因此在試件邊緣或內角附近測量是不可靠的。試件的曲率對測量有影響。隨著曲率半徑的減小，它會顯著增加。因此，在彎曲試件表面的測量也是不可靠的。那么什么原因會造成一六測厚儀測量數據不準？
1、母材和鍍層的表面粗糙度對測量有影響。粗糙度增大，影響增大，表面粗糙會造成系統誤差和偶然誤差。在每次測量中，應增加不同位置的測量次數，以克服這種偶然誤差。如果基體上的母材粗糙，還必須在未鍍膜的基體金屬試片上取幾個粗糙度相近的位置校準儀器的零點，或使用不腐蝕母材的溶液溶解去除校準儀器前的涂層；
2、周圍各種電氣設備產生的強磁場會嚴重干擾一六測厚儀的磁性測厚；
3、探頭會使軟涂層試樣變形，因此無法測量這些試樣的可靠數據；
4、必須清除阻礙探頭與涂層表面緊密接觸的粘著物質。測量過程中，壓力必須保持恒定，探頭與試樣表面必須保持垂直，以實現準確測量。
5、磁法測得的厚度受基體金屬度變化的影響（實際應用中低碳鋼的磁性能變化可以認為是輕微的）。為避免熱處理和冷加工因素的影響，應使用與試件基材相同的金屬特性的標準板校準儀器；
6、母材的電導率對測量有影響，母材的電導率與其材料成分和熱處理方法有關。應使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對一六測厚儀進行校準。
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