對于電容器的質量至關重要的數據是:
電容
損耗因子(取決于頻率!!)
串聯電阻(正如我們在其他文件中所解釋的那樣,無法正確測量串聯電阻)
三者中的任何一個都依賴于相同類型的測量:
如果使用通用低信號測量電橋,則電橋采用四點測量方法工作:電流由“被測設備 (DUT)”上的兩個獨立點產生“,電壓是由兩個不同的單獨點測量的。通用測量電橋比較電壓和電流讀數之間的相應相位,并根據這些讀數計算上面列出的三個值。這種四點測量至少可以在很大程度上抵消測量電纜造成的畸變。
請注意,MKP 電力電容器本質上具有非常低的串聯電阻和非常低的損耗因數;因此,使用低信號測量設備進行此類測量總是很困難,并且總是存在大量潛在的讀數錯誤和失真。無論讀取哪一個值,都始終存在讀取錯誤的風險,并且值也會存在相當大的變化。
在型式試驗中,我們使用經過校準的高精度儀器,例如TETTEX測量電橋。但請注意,這些不是低信號測量電橋!但即使這些設備也存在讀取錯誤的風險。
如果客戶堅持,可以選擇使用如此高精度的設備在電源頻率下測量一些電容器。然而,我們必須指出,我們并沒有使用高精度實驗室儀器來測量批量生產的所有電容器。這在常規生產中是不可能的。對于我們的生產例行測試,我們使用 100Hz 的 AGILENT 4263B 型小信號測量電橋。然而,在我們的常規生產中,我們認為所有電容器“通過”且保持在規定的限制水平內。對于一些客戶和“他們的”電容器,我們根據他們的要求出具一般測試報告,其中列出了極限值供客戶參考。
我們了解客戶要求手頭有一些測量結果,以證明電容器狀況良好。然而,通過合理的技術手段無法實現串聯電阻和損耗因數tanδ這兩個關鍵特征的測量;我們必須承認,使用常用設備無法給出足夠準確的結果。
按照我們的閾值實踐進行的粗略測量可以提供一定的保證,但也存在測量誤差的風險,并可能再次產生誤導。
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