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所有實驗均采用珠海歐美克儀器的NS-90Z Plus納米粒度及電位分析儀，NS-90Z Plus納米粒度電位儀同時具有Zeta電位、納米粒徑及分子量的分析測試功能，適用于多種不同的納米乳液、懸浮液、聚合物、生物顆粒等的尺寸和表面電位測量，能廣泛應用于精細化工行業納米材料、表活、低聚物等的開發和生產質控，同時也是油墨、醫藥制劑等行業產品開發及質控的通用測試儀器。

帶電顆粒在外加電場作用下發生定向移動，當光束照到顆粒上時，就會引起散射光的頻移（即多普勒頻移）。顆粒運動速度與光的頻移幅度成正比，因此可以通過測量光的頻移間接測量顆粒的電泳速度，再通過應用Henry方程求出Zeta電位。電泳光散射法是測量Zeta電位應用*廣的方法。

這是由于剛配置陶瓷漿料體系中鈦酸鋇顆粒的分散還沒達到穩定，因此顆粒表面的電荷密度也未趨于穩定。隨著靜置時間的加長，顆粒分散程度及表面電荷密度都逐漸趨向穩定了。因此，在表征新配置漿料的Zeta電位時，建議做靜置時間的滴定測量，取穩定后平臺區的結果作為該體系的Zeta電位更可靠。

另外，較高的Zeta電位意味著顆粒間的排斥力大于吸引力，具有較低的團聚趨向，體系更穩定。從圖1和圖2可以看到，5#漿料的Zeta電位穩定于40.5mV，6#是18.5mV，5#漿料體系更穩定。

需要強調的是，影響體系穩定性的因素很多，比如顆粒大小、密度，體系中顆粒物的濃度，體系的配方，環境溫度，外力影響等等；我們需要根據實際應用場景，系統全面地評估各項因素對于體系穩定性的影響，從而找到更好的工藝方案。

最后，希望在歐美克儀器相關分析儀器的助力下，我國電子陶瓷材料能夠快速發展，民族電子工業早日實現騰飛。