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為什么用氦氣作為檢漏的氣體?
1.氦氣分子量小,擴(kuò)散性強(qiáng)、滲透率高,即可以通過(guò)較小的孔。
2.氦氣在空氣中的體積含量約為5ppm,這說(shuō)明正常空氣環(huán)境中氦氣的含量很小,即氦本底很好。
3.氦氣是無(wú)毒無(wú)色無(wú)味的惰性氣體,這就意味著,正常情況下其可以作為介質(zhì)在所有的物體中存在,且不發(fā)生反應(yīng)。
4.在質(zhì)譜儀譜圖中易于與其它物質(zhì)區(qū)分。
5.綜合以上幾個(gè)特點(diǎn),氦氣作為一種檢漏的示蹤氣體,是較佳的選擇。
為試漏區(qū)配備足夠的通風(fēng)條件
檢漏氣體氦/ 氫如果泄露,就會(huì)像氣球一樣飛到試漏區(qū)的室頂,并逐漸漂滿整個(gè)試漏區(qū)。縱然所有連接件是密閉的,但在連接或拆卸的過(guò)程中難免會(huì)釋放少量的檢漏氣體。因此,為試漏區(qū)配備足夠的通風(fēng)條件是非常重要的。由于兩種檢漏氣體均有向上運(yùn)動(dòng)的趨向,建議從底部送入新鮮空氣和從頂部排放氣體至室外。
氦氣在在半導(dǎo)體中的檢漏作用
為了防止半導(dǎo)體器件、集成電路等元器件的表面因玷污水汽等雜質(zhì)而導(dǎo)致性能退化,就必須采用管殼來(lái)密封。但是在管殼的封接處或者引線接頭處往往會(huì)因?yàn)楦鞣N原因而產(chǎn)生一些肉眼難以發(fā)現(xiàn)的小洞,所以在元器件封裝之后,就需要采取某些方法來(lái)檢測(cè)這些小洞的存在與否。 氦氣檢漏就是采用氦氣來(lái)檢查電子元器件封裝管殼上的小漏洞。因?yàn)楹ぴ拥某叽绾苄。菀状┻^(guò)小洞而進(jìn)入到管殼內(nèi)部,所以這種檢測(cè)方法能夠檢測(cè)出尺寸很小的小洞(即能夠檢測(cè)出漏氣速率約為10?11~10?12cm3/sec的小洞),靈敏度可與性檢漏方法匹敵,但要比性檢漏方法簡(jiǎn)便。
氦氣檢漏試驗(yàn)的方法:首先把封裝好的元器件放入充滿氦氣的容器中,并加壓,讓氦氣通過(guò)小洞而進(jìn)入管殼中;然后取出,并用壓縮空氣吹去管殼表面的殘留氦氣;接著采用質(zhì)譜儀來(lái)檢測(cè)管殼外表所漏出的氦氣。
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