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高頻雷達物位計原理
高頻雷達物位計裝有天線裝置,是依據(jù)時域反射原理(TDR)為基礎(chǔ)的雷達物位計。不論高頻雷達物位計還是導(dǎo)波雷達物位計,都靠天線發(fā)射極窄的微波脈沖,這個脈沖以光速在空間傳播,遇到被測介質(zhì)表面,其部分能量被反射回來,被同一天線接收。發(fā)射脈沖與接收脈沖的時間間隔與天線到被測介質(zhì)表面的距離成正比。
由于電磁波的傳播速度*,發(fā)射脈沖與接受脈沖的時間間隔很小(納秒量級)很難確認。智能高頻雷達物位計采用一種特殊的相關(guān)解決技術(shù),可以準確識別發(fā)射脈沖與接收脈沖的時間間隔,從而進一步計算出天線到被測介質(zhì)表面的距離。
二、高頻雷達物位計特點
- 波束角小,發(fā)射頻率大,能量集中,具有更強抗干擾能力,大大提高了測量精度和可靠性;
- 天線尺寸小,便于安裝和加裝防塵罩等天線防護裝置;
- 測量盲區(qū)更小,對于小罐測量也會取得良好的效果;
- 波長更短,對小顆粒物質(zhì)的料位測量更適合。
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