X熒光測(cè)硫儀的激發(fā)系統(tǒng)有什么用？

來源：泰州市瑞測(cè)分析儀器有限公司 2025年05月03日 07:13

　　X熒光測(cè)硫儀采用X熒光能譜分析技術(shù)對(duì)各類樣品中的硫含量進(jìn)行快速測(cè)量。它具有無需進(jìn)行樣品前處理，直接對(duì)原始樣品進(jìn)行測(cè)量，一般只要100秒即可獲得滿意的分析結(jié)果，可以廣泛地用于各類輕油、重油、原油、渣油、潤(rùn)滑油等石油產(chǎn)品的硫含量測(cè)量。

　　X熒光測(cè)硫儀的激發(fā)系統(tǒng)采用*的倒置直角光學(xué)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)。以5KV／0。5mA的低功率X射線發(fā)生器作為激發(fā)源，從X射線管產(chǎn)生的初級(jí)X射線直接激發(fā)樣品。由高壓發(fā)生器，X射線發(fā)生器等電子線路部分構(gòu)成。

　　EDXRF與WDXRF主要區(qū)別在于樣品中產(chǎn)生的元素?zé)晒馐墙?jīng)能量探測(cè)器直接探測(cè)能量還是經(jīng)晶體對(duì)不同波長(zhǎng)分光探測(cè)。單波長(zhǎng)X射線熒光光譜儀是在X射線照射樣品前進(jìn)行X射線光的單色化處理，單色化的手段有依靠雙曲面彎晶實(shí)現(xiàn)點(diǎn)到點(diǎn)（X射線管光斑點(diǎn)到樣品點(diǎn)）聚焦衍射。

　　也有采用多層膜光學(xué)器件實(shí)現(xiàn)單色化衍射，獲是采用二次靶技術(shù)實(shí)現(xiàn)靶材被激發(fā)產(chǎn)生的靶材特征熒光射線進(jìn)一步照射樣品。其優(yōu)勢(shì)是單色化激發(fā)降低了由于X射線管出射譜韌致輻射照射樣品而產(chǎn)生的連續(xù)散射線背景干擾，獲得較佳的元素?zé)晒庑盘?hào)峰背比。

　　單色化激發(fā)技術(shù)有效降低光管出射譜散射線背景干擾，與硅漂移探測(cè)器相配合，將元素分析范圍延伸至O和F。雙曲面彎晶技術(shù)實(shí)現(xiàn)X射線點(diǎn)到點(diǎn)聚焦衍射，實(shí)現(xiàn)更高性能的微區(qū)分析，理論上聚焦點(diǎn)達(dá)到um級(jí)別。與顯微鏡組成高精度、高靈敏度（亞ppm）、高空間分辨率元素成像系統(tǒng)。

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