1).單元可靠性預計
a) 電子產品可靠性預計計算
針對分析對象電子元器件的類別、屬性和設計狀態，選擇按299B-98應力法、299B-98計數法、217FN2應力法、217FN2計數法及外場和實驗數據修正法等五種預計模型，進行預計。
b) 評分預計法
在可靠性數據缺乏的情況下，可使用本工具提供的評分預計法。用戶可根據需要靈活地選擇參加評分預計的單元，自行添選評分因素，并與可靠性分配模塊共用同一專家信息庫。
c) 用戶自定義可靠性預計方法
可維ARMS2.5可靠性預計工具為用戶專門提供了一個開放式的接口，并提供了可擴充的預計方法庫和編程標準。
d) 用戶直接輸入失效率
用戶也可以直接輸入產品失效率，以滿足對包括只提供某些產品失效率的系統進行可靠性預計的要求。
2). 系統可靠性預計
系統級節點和組件級節點的預計方法：由單元的失效率自底向上層層分析計算，即可計算出系統的失效率，并具有以下功能：
a) 任務加權失效率計算
提供單任務多階段任務剖面的構建、鏈接及相應任務加權失效率的計算功能，用戶可以得到系統在多階段任務剖面下的失效率。
b) 可靠性預計結果修正
傳統的可靠性預計方法（如MIL-HDBK-217F和GJB/Z 299B）認為各單元的失效率均服從指數分布，而且各單元之間是獨立的，因此組件級或系統級節點的失效率只是其下級產品失效率的簡單相加；但根據實驗數據和外場數據的統計，情況往往不同。可維ARMS集成環境提供了一種考慮外場數據和實驗數據的預計方法，即可以利用實驗數據和外場數據對可靠性預計結果進行修正；這種預計方法可以修正器件級的預計結果，也可以修正組件級和系統級的預計結果。
3).系統可靠性薄弱環節分析
a) 溫度和應力影響分析
確定溫度或應力比對某節點可靠性預計值的影響情況，支持溫度、應力比及溫度和應力比的綜合影響分析。其中綜合影響分析可生成失效率三維場圖，圖形可全角度自由旋轉，進行多方位觀察，進而找出系統的溫度與應力比邊界和主要影響因素；同時還可以生成分析對象的所有T－λ曲線和S－λ曲線。
b) 環境條件影響分析
用戶可以自定義環境類別的范圍，確定環境類別對某節點可靠性預計值的影響情況，并能按比例清晰地顯示不同環境類別下的故障率。
c) 器件類型故障率統計
生成故障率分布圖（Pareto圖），可以統計出系統中各類器件的組成和對系統可靠性預計值的影響，進而找出影響系統失效率的主要器件類型，為優化系統設計提供幫助。
d) 五種參數批量調整
在對系統進行了可靠性預計之后，如果綜合分析的結果不能滿足可靠性分配值，就要調整各元器件的預計參數。批量調整以Pareto圖為基礎，分類型進行成批調整；調整的參數包括質量等級、環境條件、工作溫度、溫升和應力比等五項；失效率所占比率大的項可作為調整的重點，以有效降低系統的失效率。
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