?金相顯微鏡IE200M概覽
金相顯微鏡采集系統IE200M是一款專業用于金相分析的顯微鏡系統,其主要特點和相關信息可以歸納如下:
1.品牌與型號:
A.品牌:不同廠商可能有自己的品牌,例如舜宇、濟南禾普等。
B.型號:IE200M
2.主要用途:廣泛應用于教學科研金相分析、半導體硅晶片檢測、地址礦物分析、精密工程測量等領域。
3.技術規格:
A.調焦機構:高精度粗微動調焦機構,左右側均可調節,微調精度高,手動調節簡單方便。
B.移動平臺:大尺寸機械移動平臺,如180×155mm的面積,便于用戶操作過程中的調焦機構與平臺移動的操作切換。
C.光學系統:采用有限遠色差光學系統,提供清晰的圖像質量。
D.觀察筒:通常為45°傾斜,三目觀察筒,具有瞳距調節范圍和分光比等參數。
E.目鏡與物鏡:配備多種目鏡和物鏡選項,如PL10X/18mm、WF15X/13mm等高眼點大視野目鏡,以及長工作距平場消色差金相物鏡(5X、10X、20X、50X、100X)。
4.照明系統:采用落射式柯拉照明系統,帶可變孔徑光欄和中心可調視場光欄,光源可選單顆5W暖色LED燈或6V30W鹵素燈,光強連續可調。
5.攝影攝像:配備專業的攝影攝像附件,如0.5X/1X攝像接筒,C型接口,可調焦等,滿足圖像采集和分析的需求。
6.其他特點:
A.配備起偏鏡插板、固定式檢偏鏡插板、360°旋轉式檢偏鏡插板、濾色片組等附件,以及高精度測微尺等測量工具。
B.適用于各種金屬和合金材料的組合結構鑒別和分析,尤其在鋼鐵、有色金屬材料、鑄件、鍍層的金相分析等領域有廣泛應用。
7.售后服務:不同廠商提供的售后服務政策可能有所不同,但通常包括保修期、免費培訓、保內維修承諾等。
請注意,以上信息可能因不同廠商和具體產品而有所差異。在選擇金相顯微鏡采集系統IE200M時,建議詳細了解具體產品的技術規格和售后服務政策,以確保滿足您的實際需求。
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