機(jī)械封裝壓電陶瓷作為精密驅(qū)動(dòng)元件,封裝質(zhì)量直接影響其振動(dòng)性能與使用壽命。生產(chǎn)及使用過程中,常見的封裝缺陷需通過科學(xué)檢測及時(shí)發(fā)現(xiàn),以避免設(shè)備失效。?
常見封裝缺陷主要有三類。一是界面氣泡與空洞,多因封裝膠涂抹不均或固化時(shí)排氣不全導(dǎo)致,會(huì)降低陶瓷與金屬外殼的結(jié)合強(qiáng)度,振動(dòng)時(shí)易產(chǎn)生局部應(yīng)力集中。二是封裝殼裂紋,常出現(xiàn)在邊角部位,多由封裝過程中機(jī)械應(yīng)力過大或材料韌性不足引發(fā),裂紋擴(kuò)展可能導(dǎo)致陶瓷元件受潮或受沖擊損壞。三是引線焊接缺陷,包括虛焊、焊點(diǎn)開路等,會(huì)造成電信號(hào)傳輸不穩(wěn)定,表現(xiàn)為驅(qū)動(dòng)電壓異?;蜉敵龉β仕p。?
針對這些缺陷,需采用針對性檢測方法。對于界面氣泡,超聲探傷是高效手段:通過5-10MHz探頭掃描封裝體,氣泡會(huì)呈現(xiàn)明顯的回波信號(hào),結(jié)合成像技術(shù)可定位缺陷位置及尺寸,檢測精度可達(dá)0.1mm級(jí)。檢測封裝殼裂紋時(shí),滲透檢測更為適用,將熒光滲透劑涂抹于外殼表面,經(jīng)清洗、顯像后,裂紋處會(huì)顯現(xiàn)熒光痕跡,尤其適合檢測表面微裂紋。引線焊接缺陷則可通過電阻測試與紅外熱像儀結(jié)合排查:用萬用表測量焊點(diǎn)電阻,超過0.5Ω即可能存在虛焊;紅外熱像儀可捕捉焊點(diǎn)通電后的異常升溫,精準(zhǔn)識(shí)別接觸不良區(qū)域。?
此外,振動(dòng)測試能驗(yàn)證封裝整體可靠性。將壓電陶瓷接入額定電壓,在10-1000Hz頻率范圍內(nèi)掃頻振動(dòng),通過激光測振儀監(jiān)測振幅均勻性,若出現(xiàn)異常波動(dòng),可能是封裝松動(dòng)或內(nèi)部缺陷導(dǎo)致。對于批量生產(chǎn)的產(chǎn)品,還可采用氦質(zhì)譜檢漏檢測封裝密封性,當(dāng)漏率超過1×10??Pa?m³/s時(shí),需重新密封處理。?

在實(shí)際檢測中,建議結(jié)合多種方法綜合判斷。例如,超聲探傷發(fā)現(xiàn)界面缺陷后,可通過振動(dòng)測試評(píng)估其對性能的影響程度。及時(shí)發(fā)現(xiàn)并處理封裝缺陷,能有效提升機(jī)械封裝壓電陶瓷的穩(wěn)定性,延長在超聲設(shè)備、精密閥門等場景中的使用壽命。