摘要 MMD-220A型輪廓儀：X行程：220mmZ1量程：30mm精度1：±(1

摘要 MMD-220B型輪廓儀：X行程：220mmZ1量程：40mm精度1：±(1

摘要 MMD-R100C輪廓儀：X行程:100mmZ1量程:40mmX軸:±(1

摘要 輪廓儀MMD-R100D

摘要 MMD-R120輪廓儀：X量程:120mmZ1量程:50mmX軸:±(1+L/300)μmZ1軸:±(0

摘要 MMD-R150輪廓儀：X量程:150mmZ1量程:60mmX軸:±(1+L/300)μmZ1軸:±(0

摘要 新型Sneox在性能、功能、效率和設計方面優于現有的3D光學輪廓儀，是Sensofar 的新一代測量系統。

摘要 輪廓粗糙度一體化，實現一次測量，輪廓、粗糙度同時分析

摘要SJ5780系列高精度智能螺紋輪廓掃描儀，是大量程、高精度的主動掃描式綜合輪廓測量儀。該儀器X軸、Z軸采用獨立運動系統，使用的兩軸聯動運動控制算法，可實現X、Z雙軸聯動掃描，測量時測針在工件表面做仿形運動掃描（主動掃描），既保持了恒測力，又保證了大的陡坡通過能力，工件...

摘要 輪廓粗糙度測量儀

摘要 非接觸式激光輪廓儀、粗糙度儀

摘要 輪廓粗糙度測量儀

摘要輪廓標逆反射系數測量儀是用來測量交通標識材料逆反射系數（R′）的儀器。ML-101D型輪廓標逆反射系數測量儀適用于材料生產單位、質量監督部門、工程施工和監理單位等對逆反射標識材料的質量控制和檢測。主要技術指標1.觀測角（α）：0o～2.0o范圍內連續可調，讀數精度為0...

摘要TIME®3234 波紋度測量儀是便攜式觸針式波紋度測量儀，適用于生產車間、實驗室、計量室等環境的檢測。它能夠評定粗糙度、波紋度和原始輪廓。測量結果可以數字和圖形方式顯示在液晶顯示器上，也可以輸出到打印機上。還可以連接到電腦，使用本公司的專用分析軟件進行高級分...

摘要 CV3100/4100輪廓度測試儀，輪廓檢測儀

摘要 CV3000CNC/CV4000CNC 三豐輪廓度檢測儀，進口輪廓度儀，大尺寸輪廓檢測儀

摘要 CV2000 Contracer輪廓度測量儀，輪廓度檢測儀，三豐輪廓度儀

摘要 螺紋掃描儀 輪廓儀

摘要 SP928基于BeamGage的光束輪廓儀更新：2019-11-14 12:12:05點擊：產品品牌Ophir產品型號SP928產品描述帶BeamGage的USB 3.0硅CCD高分辨率相機...PDF下載 詢價 申請樣品

摘要 NanoScan 2s Pyro/9/5掃描狹縫輪廓儀

摘要 描述：這種 NanoScan 掃描狹縫分析系統使用其鍺檢測器準確捕獲和分析 700nm - 1800nm 的波長。它具有適用于大多數光束的孔徑尺寸、接近實時的數據捕獲率、可選的功率測量功能，并以 CW 或 ...

摘要 描述：這種 NanoScan 掃描狹縫分析系統使用其鍺檢測器準確捕獲和分析 700nm - 1800nm 的波長。它具有適用于小光束的孔徑尺寸、接近實時的數據捕獲率、可選的功率測量功能，并以 CW 或 kH...

摘要 描述：這種 NanoScan 掃描狹縫分析系統使用其硅檢測器準確捕獲和分析 190nm - 1100nm 的波長。它具有適用于大多數光束的狹縫尺寸、接近實時的數據捕獲率、可選的功率測量功能，并以 CW 或 ...

摘要 描述：這種 NanoScan 掃描狹縫分析系統使用其硅檢測器準確捕獲和分析 190nm - 1100nm 的波長。它具有適用于小光束的狹縫尺寸、接近實時的數據捕獲率、可選的功率測量功能，并以 CW 或 kH...

摘要 LPK-YAG激光輪廓分析儀更新：2016-4-13 14:56:12點擊：產品品牌Ophir產品型號LPK-YAG產品描述 4000W Nd:YAG ， 30mm 1/e2 光束寬度...PDF下載 詢價 申請樣品

摘要 激光輪廓分析儀工具包LPK-CO2更新：2016-4-28 10:46:18點擊：產品品牌Ophir產品型號LPK-CO2產品描述 31mm光束寬度（16mm 1/e 寬度）...PDF下載 詢價 申請樣品

摘要 產品詳情更多PGIOptics測量儀器是一種觸針式光學輪廓儀，它可以測量塑料透鏡、球面、非球面、自由曲面、紅外玻璃和晶體，以及直徑達300mm的衍射表面的粗糙度和形狀

摘要 輪廓標逆反射系數測量儀是用來測量交通標識材料逆反射系數（R′）的儀器

摘要 儀器測量原理：該儀器為直角坐標測量法，觸針接觸式。 X軸采用高精密的氣浮導軌為基準，Z1軸采用數字傳感器，測繪出被測零件的表面輪廓形狀的坐標點通過計算機的軟件

摘要 產品描述：DektakXT臺階儀（探針式表面輪廓儀）的技術突破，使納米尺度的表面輪廓測量成為可能。

摘要 產品描述：ContourGT-X是實驗室開發到批量生產均可適用的儀器。

摘要 產品描述：Dektak XTL探針式輪廓儀系統可容納多大350mm*350mm的樣品

摘要 產品描述：ContourGT-I集多項檢測功能于一身，成為桌上型定量測試儀器。

摘要 產品描述：ContourX系列中的高效能白光干涉儀，配備自動XYZ樣品臺、查找表面功能、拼接及大范圍成像功能。

摘要 產品描述：布魯克白光干涉儀，適用于研究和生產的自校準、具備全自動解決方案的三維光學輪廓系統

摘要 輪廓儀/粗糙度輪廓儀一體機MMD系列

摘要便攜式輪廓儀精度指標導軌直線度精度：0.4μm/80mm采樣隔間：最小1μmX向光柵分辨率：1μmZ向光柵傳感器分辨率:0.1μmX向精度：(3.8+L/1000)μmZ向精度：(2.2+0.08%H)μm測量范圍測量長度：50mmZ向傳感器量程：6mm產品特點便攜式...

摘要便攜式輪廓儀精度指標導軌直線度精度：0.4μm/80mm采樣隔間：最小1μmX向光柵分辨率：1μmZ向光柵傳感器分辨率:0.1μmX向精度：(3.8+L/1000)μmZ向精度：(2.2+0.08%H)μm測量范圍測量長度：50mmZ向傳感器量程：6mm產品特點便攜式...

摘要 SP3300輪廓儀基本參數X向量程：150mmX軸分辨率：0.05μmX軸指示精度：±（1.5+2L/100)μmZ向量程：24mmZ軸分辨率：0.02μmZ指示精度：±（2+|2H|/24)μm產品特點★高精度小臺式輪廓測量儀

摘要 SP3200輪廓儀基本參數X向量程：150mmX軸分辨率：0.05μmX軸指示精度：±（1.5+2L/100)μmZ向量程：60mmZ軸分辨率：0.02μmZ指示精度：±（2+|2H|/40)μm產品特點★高精度小臺式輪廓測量儀

摘要 SP3100輪廓儀基本參數X向量程：150mmX軸分辨率：0.05μmX軸指示精度：±（1.5+2L/100)μmZ向量程：40mmZ軸分辨率：0.02μmZ指示精度：±（2+|2H|/40)μm產品特點★高精度小臺式輪廓測量儀

摘要 SP2200輪廓儀(實用型)基本參數X向量程：120mmX軸分辨率：0.2μmX軸指示精度：±（3.5+2L/100)μmZ向量程：40mmZ軸分辨率：0.2μmZ指示精度：±（3+|4H|/40)μm產品特點★高精度小臺式輪廓測量儀

摘要 SP2300輪廓儀基本參數X向量程：120mmX軸分辨率：0.2μmX軸指示精度：±（3.5+2L/100)μmZ向量程：60mmZ軸分辨率：0.2μmZ指示精度：±（3+|4H|/40)μm產品特點★高精度小臺式輪廓測量儀

摘要 SP2100輪廓儀(實用型)基本參數X向量程：120mmX軸分辨率：0.2μmX軸指示精度：±（3.5+2L/100)μmZ向量程：24mmZ軸分辨率：0.2μmZ指示精度：±（3+|4H|/24)μm產品特點★高精度小臺式輪廓測量儀

摘要 SP1200輪廓儀(經濟型)基本參數X向量程：100mmX軸分辨率：0.5μmX軸指示精度：±（4+2L/100)μmZ向量程：12mmZ軸分辨率：0.4μmZ指示精度：±（3.5+|4H|/12)μm產品特點★高精度小臺式輪廓測量儀