熱性能測定儀是基于JEDEC“靜態測試方法”(JESD51-1),實時采集器件瞬態溫度響應曲線的儀器,其測試延遲時間(tMD)和分辨率均高達1um。儀器介紹熱性能測定儀,是MicReD研發制造的用于半導體器件的*熱測試儀,用于測試IC、LED、散熱器、熱管等器件的熱特性。儀器獨的結構函數(StructureFunction)分析法,能夠分析器件熱傳導路徑相關結構的熱學性能,構建器件等效熱學模型,是器件封裝工藝、可靠性研究和測試的強大支持工具。因此被譽為熱測試中的“X射線”。主要功能半導體器件結溫測量;半導體器件熱阻和熱容測
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