摘要 等離子體分析飛行時間質譜儀PP-TOFMS用于多鍍層固體材料中所有元素及同位素的深度剖析

摘要 射頻輝光放電光譜儀GD-OES射頻輝光放電光譜儀可以檢測導體、非導體、半導體薄/厚膜中70多種元素隨鍍層結構和深度的變化

摘要 橢圓偏振光譜儀橢圓偏振光譜儀是一種無損無接觸的光學測量技術，基于線偏振光經過薄膜樣品反射后偏振狀態的改變(強度和相位)，通過模型擬合后獲得各層厚度以及光學常數（n,k）

摘要 X射線油中硫分析通過X射線熒光分析法，可以分析各種石油類產品當中的硫含量，HORIBA的SLFA系列油中硫分析儀多年來一直是石油工業中的多數選擇

摘要碳/硫、氧/氮/氫分析儀碳硫分析儀、氧氮氫分析儀是金屬及無機材料中碳、硫、氧、氮、氫元素含量的專用檢測設備，用于相關材料的研發及生產過程中的質量控制，HORIBA公司集四十年此類產品研發及生產的豐富經驗，采用*的加熱控制技術及高性能非分散紅外檢測技術和熱導檢測技術，同...

摘要 X射線能譜儀X射線能譜儀是與掃描電鏡或透射電鏡配合使用的一種對元素進行分析的設備

摘要 X射線分析顯微鏡能量色散型X射線熒光分析儀，可以快速、無損地分析待測樣品的元素組成

摘要 X射線熒光光譜儀　　基于大量客戶的要求，HORIBA憑借長期的經驗開發出全新的EDXRF分析裝置MESA-50

摘要 ICP等離子體發射光譜儀　　電感耦合等離子體發射光譜儀（ICP-OES）可對各種類型樣品進行元素分析

摘要 SPRi表面等離子體共振成像儀　　SPRi表面等離子體共振成像儀表面等離子體共振成像是一種無標記、多通道、快速、高靈敏度的生物分子分析與測試技術

摘要熒光光譜儀是研究分子躍遷能級及分子間相互作用的常規手段，熒光光譜儀用于功能性/半導體型納米材料、稀土摻雜材料、有機電子發光器件、熒光有機探針、有機污染物以及生物分子的熒光激發譜、發射譜、低溫熒光、熱穩定性和熒光壽命測量，從而定性定量表征發光樣品的發光機理和特性、激發動...

摘要 真空紫外光譜儀　　HORIBA提供1-00nm真空紫外光譜儀和相關附件，以光柵制造能力為支撐，非球光學設計為優勢，低能量損失和高光通量為技術特色

摘要 科研級光柵和量產光柵　　HORIBA是靠前的光柵制造商，具有成熟的刻劃、全息和離子刻蝕等光柵制造技術，具有大量的標準品型號可供選擇，也可以按照客戶需求定制光柵

摘要 RVDV-2T旋轉粘度計RV滿足規范：ASTMD4402，AASHTOT316，SHRP，JTGE20T0625美國Brookfield是實驗室和旋轉粘度計生產商，大多數的質量控制、研究開發及生產工藝部門都將布氏粘度計作為它們在粘度測量方面的首要選擇

摘要瑞典泰沃公司設計生產的TVT-300XP 質構儀的使用遍及食品產品的多個領域。儀器配置10余種不同形狀的測量頭，進行各種檢測。軟件功能強大，使用簡單。可以計算全部結構參數（例如硬度和彈性等），包括斷裂實驗功能。儀器可以自動地把測試數據的數理統計結果顯示在屏幕上，同時所...