摘要 SS-60系列掃描電子顯微鏡具有體型小巧,占用空間小；放大倍率30 ~60,000 X，15nm分辨率；采用二次電子和背散電子雙重探測器；SS-60掃描電鏡具有強大軟件功能,操作簡單,易于維護；國產(chǎn)掃描電鏡，良好售后服務(wù)系統(tǒng)。

摘要 SU8600系列秉承了Regulus8200系列的高質(zhì)量圖像、大束流分析及長時間穩(wěn)定運行的冷場成像技術(shù)，同時還大大提升了高通量、自動數(shù)據(jù)獲取能力。

摘要 RuliTEM120 kV透射電子顯微鏡系列，包含配備高襯度透鏡，實現(xiàn)大視野、高對比度觀察的HT7800和配備高分辨率透鏡的HT7830。

摘要 “的SEM更為緊湊”寬幅僅為45 cm的緊湊型的設(shè)計，仍具備4.0 nm的圖像分辨率。全新開發(fā)的用戶界面和電子光學系統(tǒng)讓您深切體驗其高性能。特點FlexSE

摘要 臺式掃描電子顯微鏡(SEM)全新升級。我們以“更高畫質(zhì)、更易于使用、更易于觀察”為理念，開發(fā)出TM4000系列。在此基礎(chǔ)上，我們又推出功能更為多樣的TM4000

摘要 集優(yōu)異性能、操作簡便性、多樣化功能于一身日立高新推出的掃描電鏡SU3800/SU3900兼具操作性和擴展性，結(jié)合眾多的自動化功能，可高效發(fā)揮其高性能。SU390

摘要掃描電子顯微鏡（SEM）是一種介于透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品，通過光束與物質(zhì)間的相互作用，來激發(fā)各種物理信息，對這些信息收集、放大、再成像以達到對物質(zhì)微觀形貌表征的目的。此外，掃描電子顯微鏡和其他分析儀器相結(jié)合...

摘要 日立掃描電子顯微鏡SU8700

摘要 產(chǎn)品參數(shù)產(chǎn)品編號:所屬品牌:JEOL產(chǎn)品型號:JEM-2100Plus額定功率：按實際方案提供所屬類別:掃描電鏡所屬用途:金相組織觀察應(yīng)用領(lǐng)域:產(chǎn)品特性:功能高度整合

摘要 特點日立的雙隙物鏡設(shè)計

摘要 高分辨率掃描透射電子顯微鏡成像HAADF-STEM圖像0.136nm

摘要 超高分辨觀察和分析能力日立的高亮度肖特基場發(fā)射電子槍可同時支持超高分辨觀察和快速微束分析

摘要 集優(yōu)異性能、操作簡便性、多樣化功能于一身日立高新推出的掃描電鏡SU3800/SU3900兼具操作性和擴展性，結(jié)合眾多的自動化功能，可高效發(fā)揮其高性能

摘要 新的操作屏幕和觸控屏帶來了方便的操作體驗，使用起來非常直觀

摘要 FlexSEM1000II“的SEM更為緊湊”寬幅僅為45cm的緊湊型的設(shè)計，仍具備4.0nm的圖像分辨率

摘要 專門為電子束敏感樣品和需**300萬倍穩(wěn)定觀察的*半導體器件，高分辨成像所設(shè)計

摘要 產(chǎn)品型號：B008產(chǎn)品類別：便攜式手動數(shù)碼顯微鏡產(chǎn)品特色：高清晰、高精度手動調(diào)焦顯微鏡

摘要 JSM-7200F 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡，應(yīng)用了日本電子旗艦機-JSM-7800F Prime采用的浸沒式肖特基電子槍技術(shù)，標配了TTLS系統(tǒng)（Through-The-Lens System），因此無論是在高/低加速電壓下，空間分辨率都比傳統(tǒng)機型有了很大的提升。

摘要 日本JEOL JSM-IT500 掃描電子顯微鏡，是JEOL InTouchScope系列的新機型。 從設(shè)定視野到生成報告，用于分析的軟件整合于一體，加快了作業(yè)速度！是一款無縫操作，使用更加方便的掃描電子顯微鏡。

摘要 JSM-7610FPlus 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡，實現(xiàn)了分辨率15kV 0.8nm、1kV 1.0nm的進一步提升，采用半浸沒式物鏡和High Power Optics照明系統(tǒng)，提供穩(wěn)定的高空間分辨率觀察和分析。

摘要 JSM-7900F 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡，它繼承了上一代廣獲好評的性能如的空間分辨率、高穩(wěn)定性、多種功能等的同時，操作性能極大簡單化。該設(shè)備不依賴操作者的技能，始終能夠發(fā)揮其性能。

摘要Serial Block-face SEM 3View 發(fā)射掃描電子顯微鏡，肖特基場發(fā)射掃描電子顯微鏡能長時間穩(wěn)定地提供高電流下的微細探針，與3View2XP（Gatan公司制造）結(jié)合使用，能對樣品進行自動切割，自動獲取圖像。通過對獲得的圖像進行三維重構(gòu)，可以對精細結(jié)...

摘要 日本JEOL JSM-IT500HR 掃描電子顯微鏡，采用了新開發(fā)的高亮度電子槍和透鏡系統(tǒng)，因而能獲得令人驚嘆的高畫質(zhì)圖像。即使對實時圖像，也能輕松地在CCD圖像上從尋找視野迅速過渡到高倍率（100,000）觀察。

摘要 JSM-IT200 InTouchScope 掃描電子顯微鏡，是一款更簡潔、更易于使用且性價比高的掃描電子顯微鏡。

摘要 JCM-7000 NeoScope 臺式掃描電子顯微鏡，是以誰都可以操作的SEM/EDS為理念的臺式掃描電子顯微鏡， 標配Zeromag、Live analysis、 Live 3D功能。

摘要 日本JEOL JEM-ARM300F GRAND ARM 透射電子顯微鏡，實現(xiàn)了高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率，配備了JEOL自主研發(fā)的球差校正器，加速電壓可達300kV，是一款原子級分辨率電子顯微鏡。實現(xiàn)了高的STEM-HAADF像分辨率。

摘要 JEM-F200 場發(fā)射透射電子顯微鏡，以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開發(fā)的JEM-F200場發(fā)射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統(tǒng)可滿足多種使用途徑，易用性強，外觀設(shè)計精煉，能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗。

摘要 日本電子JEM-2100Plus 透射電子顯微鏡，不僅擁有信譽的JEM-2100 的電子光學系統(tǒng)，還增加了的控制系統(tǒng)，大幅提高了可操作性。 多功能電子顯微鏡JEM-2100Plus性能*，操作方便，簡明易懂，在材料、醫(yī)學、生物學等多個研究領(lǐng)域提供優(yōu)異的解決方案。

摘要 JEM-3200FS場發(fā)射電子顯微鏡配備了加速電壓為300kV的場發(fā)射電子槍（FEG）和鏡筒內(nèi)置式型能量過濾器，能為廣泛的研究領(lǐng)域提供各種全新的解決方案。

摘要 JEM-1400Flash 透射電子顯微鏡配備了高靈敏度sCMOS相機、超廣視野的蒙太奇系統(tǒng)以及光學顯微鏡圖像的聯(lián)動功能，是一款新型的高通量、高分辨率 的120kV透射電子顯微鏡。

摘要 JEM-Z200FSC 場發(fā)射冷凍電子顯微鏡發(fā)，標配冷場發(fā)射電子槍、柱體內(nèi)能量過濾器（能量過濾器）、液氮冷卻樣品臺和12位自動樣品更換系統(tǒng)。新設(shè)計的能量過濾器與無孔位相板的組合，進一步提高了生物樣品的襯度。

摘要型號：JetSCAN產(chǎn)品介紹：JetSCAN用于航空發(fā)動機安全檢測與分析的便攜式掃描電子顯微鏡.JetSCAN：專用于航空發(fā)動機安全檢測與分析的便攜式掃描電子顯微鏡JetSCAN整體解決方案中集成了強大的數(shù)據(jù)分析和風險評估功能，是一款用于軸承磨損狀態(tài)監(jiān)測的*診斷與預測...

摘要 型號:Sigma系列產(chǎn)品介紹：Sigma系列產(chǎn)品用于高品質(zhì)成像與高級分析的場發(fā)射掃描電子顯微鏡.靈活的探測，4步工作流程，高級的分析性能將高級的分析性能與場發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合，利用成熟的Gemini電子光學元件

摘要 型號：ParticleSCANVP產(chǎn)品介紹：ParticleSCANVP:配有SmartPI用戶界面的堅固耐用型掃描電子顯微鏡.ParticleSCANVP：開創(chuàng)工藝過程控制新標準ParticleSCANVP是蔡司掃描電鏡（SEM）家族的新成員

摘要 型號：EVO系列產(chǎn)品描述:EVO系列將高性能的掃描電鏡和直觀的、友好的用戶界面體驗結(jié)合在一起，同時能夠吸引經(jīng)驗豐富的用戶以及新用戶

摘要JEM-ARM200F NEOARM 原子級分辨率透射電子顯微鏡,標配了日本電子獨自開發(fā)的冷場發(fā)射電子槍（Cold-FEG）和全新的高階球差校正器（ASCOR）。無論是在200kV的高加速電壓還是在30kV的低加速電壓下，均能實現(xiàn)原子級分辨率的觀察與分析。同時還配備了...

摘要AFMinSEM 德國 Nano analytik（ParcanNano)針尖電子束光刻與掃描電子顯微鏡組合系統(tǒng) ,既可以在大氣環(huán)境下實現(xiàn)樣品快速表征，也可以集成在真空環(huán)境中，如集成在掃描電子顯微鏡（SEM）中。無需對SEM腔室進行任何改造，保留SEM原有功能，賦予...

摘要場發(fā)射冷凍電子顯微鏡JEM-Z300FSC (CRYO ARM 300)配備了冷場發(fā)射電子槍、柱體內(nèi)能量過濾器(能量過濾器)、側(cè)插式液氮冷卻樣品臺和自動樣品交換系統(tǒng)，能夠在冷凍低溫下觀察生物大分子。樣品交換系統(tǒng)內(nèi)最多可以存儲12個樣品，可以任意取出和交換一個或數(shù)個樣品...

摘要 數(shù)字化掃描電子顯微鏡2800B數(shù)字化電子顯微鏡是生物學、醫(yī)學、化學、農(nóng)林和材料科學等領(lǐng)域進行科學研究的重要工具，電子顯微鏡技術(shù)已成為上述各領(lǐng)域研究工作者應(yīng)掌握的一項基本技能

摘要 數(shù)字化掃描電子顯微鏡EM3200數(shù)字化掃描電子顯微鏡產(chǎn)品在電器控制系統(tǒng)、計算機系統(tǒng)、操作控制軟件、圖像控制系統(tǒng)、圖像處理軟件、自動控制功能等諸多方面都進行了改進

摘要 3800B型掃描電子顯微鏡3800B型掃描電子顯微鏡，是在幾十年的研究和生產(chǎn)經(jīng)驗基礎(chǔ)上，引用現(xiàn)代計算機及數(shù)字圖象技術(shù)，開發(fā)出的高性能產(chǎn)品

摘要 美國Delong 透射電子顯微鏡LVEM5（Bench-top TEM),小型臺式多用途電子顯微鏡，透射電鏡（TEM）、電子衍射（ED）、掃描電鏡（SEM）、掃描透射電鏡（STEM）四種成像模式，分辨率：1.5nm（TEM）；10nm（SEM）。

摘要 德國Zeiss SIGMA 300 場發(fā)射電子顯微鏡，Gemini鏡筒，超高的束流穩(wěn)定性，的低電壓性能，In Lens 探測器，磁性材料高分辨觀察，X射線分析設(shè)計，便越操作系統(tǒng)設(shè)計，超大空間，多接口，升級靈活。

摘要 JEM-1000 超高壓透射電子顯微鏡，由于超高壓透射電子顯微鏡的加速電壓很高電子波長很短，即使增大物鏡極靴之間的間隙，也能獲得高分辨率的圖像。此外，電子束具有很強的穿透能力，即使厚樣品也能觀察到清晰的圖像，這是超高壓透射電子顯微鏡的。

摘要 JSM-7610FPlus，用于納米科學的肖特基場發(fā)射掃描電子顯微鏡， 是一款采用半浸沒式物鏡、擁有超高分辨率的場發(fā)射掃描電子顯微鏡，能觀察微細結(jié)構(gòu)和進行微區(qū)元素分析。