TMS透過率測試系統(tǒng)是一套全波長的0度角透過率檢測儀，能快速準(zhǔn)確地測量各類平面光學(xué)元件的透光率，可用于實(shí)時(shí)在線檢測，實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品全檢。適用于棱鏡、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板、太陽膜、濾光片等平面光學(xué)元件的檢測。
技術(shù)參數(shù)
型號(hào) | TMS（I型） | TMS（Ⅲ型） |
探測器 | Sony線形CCD 陣列 | Hamamatsu背照式2D-CCD |
檢測范圍 | 380-1000nm | 360-1100nm |
波長分辨率 | 1nm | 1nm |
信噪比（全信號(hào)） | 250：1 | 1000：1 |
相對(duì)檢測誤差 | ﹤0.5%（400-800nm） | ﹤0.2%（400-800nm） |
單次測量時(shí)間 | ﹤1s | |
樣品尺寸 | ≥ Φ1mm | |
操作系統(tǒng)/接口 | Windows XP, Windows Vista/ USB2.0 | |
電源/功率 | 220V-50HZ /6W | |
TMS透過率測試系統(tǒng)-*的軟件設(shè)計(jì)
智能化軟件操作:可自定義測量方式和角度，實(shí)時(shí)顯示測量樣品關(guān)注波長位置的透/反射率數(shù)據(jù)，自動(dòng)調(diào)整顯示坐標(biāo)范圍，高效地進(jìn)行批量樣品檢測及譜圖對(duì)比分析。
譜圖管理:可同時(shí)記錄多達(dá)20個(gè)樣品譜圖，批量保存測量結(jié)果，記錄譜圖測試積分時(shí)間，能對(duì)譜圖進(jìn)行更名、定義顏色、選擇是否顯示、加粗等操作，地方便了譜圖的管理和分析。
自定義測量方案:用戶可以自行定義測量的方案，同時(shí)設(shè)置判定標(biāo)準(zhǔn)，使檢測更快速，結(jié)果更準(zhǔn)確。
譜圖數(shù)據(jù)處理功能:備有豐富的光學(xué)元件數(shù)據(jù)庫，可根據(jù)數(shù)據(jù)庫已存標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)對(duì)比分析結(jié)果，用戶可自行對(duì)數(shù)據(jù)庫進(jìn)行添加、修改和刪除，還可將測量數(shù)據(jù)導(dǎo)入Excel有利于進(jìn)一步對(duì)譜圖進(jìn)行分析和研究。
CIE顏色測量功能:可以計(jì)算樣品各種CIE顏色參數(shù)， x，y，L,a,b,飽和度，主波長等。
數(shù)據(jù)報(bào)告打印功能:可快速批量打印樣品測量數(shù)據(jù)及譜圖，自定義測量報(bào)告出具單位名稱。
