M4型全譜直讀光譜儀采用標準的設計和制造工藝技術，全數字化及互聯網技術結合，運用高分辯率CMOS檢測器，精密設計的氬氣吹掃系統，使儀器具有較高的性能、較低的成本、以及竟爭力的價格。
M4型全譜直讀光譜儀應用于多基體的、高性能的全譜直讀光譜儀
01 優異的分析性能、非常緊湊的儀器結構
02 用于多種基體、多種材料的分析，分析范圍覆蓋了幾乎所有的重要元素，可以滿足絕大多數現代鑄造業的應用需求。
03 高亮度全息光柵具備3600條/mm刻線，使得分光系統具有高的分辯率。
04 氬氣吹掃光室配置了優化設計的低流速吹氬系統，既保證低的使用成本又保證紫外區的透過率。
05 應用高分辯率多CMOS讀出系統，較低的暗電流、較好的檢出限、較高的穩定性、較強的靈敏度。
06 全數字化的智能復合光源DDD技術，充分滿足不同基體、不同樣品以及不同元素的激發要求。
07 一體式開放火花臺，可以滿足各種不同樣品結構的分析。
08 配置多條工廠校正曲線及更多的材料分析方法和*的解決方案。
09 可根據用戶的材料要求，延長標準曲線的測量上、下限。
精密設計的氬氣吹掃系統
光室密封性強，可保持內部氬氣*純凈。
光室空間優化設計，降低氬氣消耗，有效節約產生成本。
低氬氣吹掃系統，確保光室UV波段測量環境。
光室充氬免除復雜的真空系統。
高分辯率CMOS檢測器實現全譜分析
譜線覆蓋了所有的重要元素，滿足所有基體和材料的分析。
高靈敏的紫外區檢測，對N的分析檢測更準確。
可有效選擇元素靈敏線，保證分析的準確度。
多峰擬合技術，有效消除譜線干擾，實現精準測量。
