X-Strata920、980-臺式XRF鍍層測厚儀
利用X射線熒光（XRF）進行鍍層厚度測量和材料分析，提高過程和質量控制。X-Strata是結構緊湊、堅固耐用、用于質量控制的可靠的臺式X射線熒光分析設備，提供簡單、快速、無損的鍍層厚度測量和材料分析。
X-Strata920、980-臺式XRF鍍層測厚儀
利用X射線熒光（XRF）進行鍍層厚度測量和材料分析，提高過程和質量控制。X-Strata是結構緊湊、堅固耐用、用于質量控制的可靠的臺式X射線熒光分析設備，提供簡單、快速、無損的鍍層厚度測量和材料分析。它在工業領域如電子行業、五金電鍍行業、金屬合金行業及貴金屬分析行業表現出的分析能力，可進行多鍍層厚度的測量。
X-Strata920、980-臺式XRF鍍層測厚儀
提供：
無損分析：無需樣品制備
經行業認證的技術和可靠性，確保每年都帶來收益
操作簡單，只需要簡單的培訓
分析只需三步驟
杰出的分析準確性和精確性
在鍍層測厚領域擁有超過20年的豐富經驗
使用功能強大、操作簡單的X射線熒光光譜儀進行鍍層厚度測量，保證質量的同時降低成本。
鍍層測厚儀-X-Strata系列
X-Strata920 – 性價比高，無損可靠
一款操作簡單的質量控制分析儀，滿足鍍層厚度測量和材料分析。
新型號設計
快速分析（幾秒）1-4層鍍層厚度
多款規格，例如標準樣品臺、加深樣品臺或自動程控樣品臺，滿足所有樣品類型
開槽式樣品艙可檢測大面積樣品，例如印制線路板等
符合ISO3487和ASTM B568檢測方法
X-Strata980 – 靈活、多元素、無損的材料分析
