雙光束狹縫可調紫外可見分光光度計
本產品是采用雙光束反饋記錄測光系統，由PC機控制的全自動掃描型高性能紫外可見分光光度計。
全新的光學系統和電路設計及光譜帶寬0.1-5.0nm連續可調及設定，確保儀器具有高分辨率、低雜散光、持久穩定性和高信噪比
并有強大的軟件功能，能滿足眾多高層次分析工作者的需求，如生物制藥、環境、科研等檢測系統。
· 產品概述雙光束狹縫可調紫外可見分光光度計
本產品是采用雙光束反饋記錄測光系統，由PC機控制的全自動掃描型高性能紫外可見分光光度計。
全新的光學系統和電路設計及光譜帶寬0.1-5.0nm連續可調及設定，確保儀器具有高分辨率、低雜散光、持久穩定性和高信噪比
并有強大的軟件功能，能滿足眾多高層次分析工作者的需求，如生物制藥、環境、科研等檢測系統。
儀器特點： 雙光束狹縫可調紫外可見分光光度計
持久的穩定性：雙光束動態反饋比例記錄測光系統及電路保證了基線穩定性，確保儀器長時間的穩定。
超低的雜散光：極其優良的光學系統、*的電子系統保證儀器雜散光≤0.015%T使高濃度樣品測試數據更準確。
自動8檔光譜帶寬（0.1、0.2、0.5、1.0、2.0、3.0、4.0、5.0nm）連續可調，以滿足各種樣品測試需要，也可自定義光譜帶寬數。
燈源更換簡單方便：采用進口插座式法蘭盤型氘燈和鎢燈，換燈時無需光路調試，維護更加簡便。
全PC機操作：隨機配備工作站軟件，操作方便，測試功能豐富。
三維圖譜的測量：對具有“動態變化”的樣品掃描圖譜進行三維圖譜的制作及分析。
技術指標：
光學系統 | 雙光束 |
光譜帶寬 | 0.1-5.0nm連續可調 |
波長范圍 | 190～900nm |
波長大允許誤差 | ±0.3nm |
波長重復性 | ≤0.1nm |
光度范圍 | A: -4.0～4.0 Abs |
透射比大允許誤差 | ±0.3%T |
透射比重復性 | ≤0.1%T |
雜散光 | ≤0.015%T（220nmNal; 360nmNaNO2） |
穩定性/噪聲 | ±0.0004 Abs |
基線平直度 | ±0.001 Abs |
漂移 | ≤±0.0004 Abs/h (500nm處，預熱2h后) |
