CHI900D/920D掃描電化學顯微鏡發明于1989年并獲得美國。CH Instruments與University of Taxes at Austin的化學系的Allen J. Bard教授合作實現了電化學掃描顯微鏡的儀器商品化，從而使得這一強有力的研究方法走進了更多的實驗室。
         CHI900D/920D掃描電化學顯微鏡掃描電化學顯微鏡與掃描隧道顯微鏡(STM)的工作原理類似。但SECM測量的不是隧道電流，而是由化學物質氧化或還原給出的電化學電流。盡管SECM的分辨率較STM低，但SECM的樣品可以是導體，絕緣體或半導體，而STM只限于導體表面的測量。SECM除了能給出樣品表面的地形地貌外，還能提供豐富的化學信息。其可觀察表面的范圍也大得多。
         在SECM的實驗中，探頭先移動到非常靠近樣品表面，然后在X-Y的平面上掃描。探頭是雙恒電位儀的*個工作電極。如果樣品也是導體，則通常作為第二個工作電極。探頭的電位控制在由傳質過程控制的氧化或還原的電位。而樣品的電位被控制在其逆反應的電位。由于探頭很靠近樣品，探頭上的反應產物擴散到樣品表面又被反應成為原始反應物并回到探頭表面再作用，從而造成電流的增加。這被稱為＂正反饋＂方式。正反饋的程度取決于探頭和樣品間的距離。如果樣品是絕緣體，當探頭靠近樣品時，反應物到電極表面的擴散流量受到樣品的阻礙而造成電流的減少。這被稱為＂負反饋＂方式。負反饋的程度亦取決于探頭和樣品間的距離。探頭電流和探頭與導體或絕緣體樣品間的距離的關系可通過現有理論計算得到。
         基于以上特性，SECM已在多個領域發現了許多應用。SECM能被用于觀察樣品表面的化學或生物活性分布，亞單分子層吸附的均勻性，測量快速異相電荷傳遞的速度，一級或二級隨后反應的速度，酶-中間體催化反應的動力學，膜中離子擴散，溶液/膜界面以及液/液界面的動力學過程。SECM還被用于單分子的檢測，酶和脫氧核糖核酸的成像，光合作用的研究，腐蝕研究，化學修飾電極膜厚的測量，納米級刻蝕，沉積和加工，等等。SECM的許多應用或是其他方法無法取代的，或是用其他方法很難實現的。