日本精工膜厚儀SFT-9500系列
同時，SFT9500采用了高計數率、高分辨率的半導體檢測器無需液氮，在測量鍍膜厚度的同時，對于歐盟的RoHS ELV法規所限制的有害元素的分析測量也十分有效。
儀器簡介：日本精工膜厚儀SFT-9500系列
SFT9500的X射線發生系統是X射線聚光系統（聚光導管）與X射線源相結合，產生束斑直徑為Φ0.1mm以下高強度的X射線束。 所以SFT9500可以對以往由于X射線照射強度不足而導致無法得到理想精度的導線架、接插頭、柔性線路板等微小零件及薄膜進行測量。同時，SFT9500采用了高計數率、高分辨率的半導體檢測器（無需液氮），在測量鍍膜厚度的同時，對于歐盟的RoHS&ELV法規所限制的有害元素的分析測量也十分有效。
技術參數日本精工膜厚儀SFT-9500系列
序 號 | 項 目 | 參 數 |
1 | 可測量元素 | 原子序數13(Al)～83(Bi) |
2 | 聚光方式 | X射線聚光 |
3 | X射線源 | 管電壓：50kV |
4 | 檢測器 | Vortex®檢測器(無需液氮) |
5 | 分析范圍 | Φ0.1mm、Φ5mm |
6 | 樣品觀察 | 彩色CCD攝像頭（附變焦功能） |
7 | 濾波器 | 3種模式自動切換 |
8 | 樣品室 | 樣品平臺 240(W)×330(D)mm |
9 | 重 量 | 123kg(不含電腦) |
10 | X-ray Station | 臺式電腦 19"LCD(OS; MS-Windows XP®) |
11 | 膜厚測量軟件 | 薄膜FP法（多五層，各層十種元素） |
12 | 定量分析功能 | 塊體FP法 |
13 | 統計處理功能 | MS-EXCEL®、 MS-WORD® |
14 | 安裝環境 | 溫度：10℃～35℃(±)5℃ |
15 | 電 源 | 接地三頭插座 AC100、15A |
主要特點：
★ X射線發生系統采用了聚光導管
由于采用了X射線聚光導管方式，可得到以往十倍以上的X射線強度，從而可以提高微小樣品的膜厚測量及有害物質測量的精度。
★ 無需液氮的半導體檢測器
在進行薄膜測量與有害物質的濃度測量時，高分辨率的檢測器是*的。SFT9500的檢測器不但可以達到高分辨率，而且可以實現高計數率。同時，由于使用了電子冷卻方式，所以無需液氮。
★ 能譜匹配軟件（選配件）
可瞬間識別未知樣品與事先存檔的X射線能譜庫中哪一個樣品較為接近的軟件。對識別材料十分有效。
★ 塊體檢量線軟件（適用于電鍍液分析） （選配件）
可簡單地測量出電鍍液中主要金屬的濃度。
★ 繪圖軟件（選配件）
將元素面分析的結果進行等高線和色彩使用等視覺處理的軟件。
★ 電鍍液容器（選配件）
★ 各種標準物質（選配件）
