BI-XDC圓盤式離心/沉降粒度儀
XDC以X-射線為檢測光源，避免了對小顆粒樣品的消光校正，廣泛應用于陶瓷和金屬粉末等行業的質量控制。
工作原理BI-XDC圓盤式離心/沉降粒度儀
重力或者離心力使得懸浮在樣品轉盤腔內的顆粒可以產生沉降或離心運動。大顆粒運動較快，小顆粒運動較慢，隨著時間的增加，大小顆粒自然分級并依次通過靠近轉盤腔底內部的檢測器，因而具有*的分辯率。
應用價值BI-XDC圓盤式離心/沉降粒度儀
1.精確分辨復雜體系的粒度分布從而提高流變性能和結構特性的分析
2.通過測量對原料進行監控，避免由原料帶來的生產問題
3.通過簡化步驟和減少測量時間來提高效率
4.化材料特性從而提高產品性能
5.研究體系粒度的基本構成從而幫助新產品和生產工藝的開發
BI-XDC的設計精華：
1. 高分辨率的測量方法，*測量實踐證明，基于Stokes公式的離心沉降理論仍然是分辨率、精度、準確度方法，BI-DCP/BI-XDC能夠區分峰值間隔13％的樣品。
2. 準確可靠的數字式頻率電機，轉速精度達0.01%，是一般模擬電機精度的100倍，配以高精度的掃描檢測器，從根本上保證了測量結果的可靠性。
3. 快速的掃描檢測器，逆向于顆粒運動方向勻速運動，大大節約了檢測時間，標準的離心檢測時間僅為5-8分鐘。
4. 傳感器對圓盤中的溫度進行實時監控。
5. 實用方便的分段監測功能：對于寬分布樣品可兩次檢測不同粒級，后通過軟件歸一，大大提高了檢測效率和檢測范圍。
6. 功能完善的軟件：
1) 用戶可預先通過軟件，模擬選擇實驗條件。
2) 檢測中可實時跟蹤原始物理信號，確保全部信息的準確。
3) 分段測量結果擬合簡便而實用。
4) 計算結果列表與圖形選擇輸出。
