摘要 Zeta 電位及其測定分析儀采用的是電泳光散射原理：帶電顆粒在外加電場作用下進(jìn)行運(yùn)動(dòng)，電荷運(yùn)動(dòng)使散射光產(chǎn)生頻率漂移（多普勒頻移）,采用頻譜漂移分析技術(shù),從而可計(jì)算出顆粒的電泳遷移率和Zeta電位。

摘要 納米粒度及zeta電位儀NANOTRAC WAVE II采用先進(jìn)的“Y”型光纖探針光路設(shè)計(jì)，配置膜電極產(chǎn)生微電場，操作簡單，測量迅速，無需精確定位由于電泳和電滲等效應(yīng)導(dǎo)致的靜止層，無需外加大功率電場，無需更換分別用于測量粒度和Zeta電位的樣品池，*消除由于空間位阻

摘要 雙顯恒電位儀：DJS系列是電化學(xué)測試儀器，可廣泛應(yīng)用于電極過程動(dòng)力學(xué)、化學(xué)電源、電鍍、金屬腐蝕、電化學(xué)分析及有機(jī)電化學(xué)合成等方面的研究

摘要 便攜式氧化還原電位儀 高精度氧化還原電位測試儀 型號:JC16-QX6530可測量pH值、溫度、毫伏值、氧化還原電位（ORP）。微電腦處理器，測量精度高、重復(fù)性好、自動(dòng)溫度補(bǔ)償，操作簡單。配通用電極，滿足常規(guī)pH的測量。

摘要 Zeta電位分析儀FPA測量纖維及填料的表面電荷，通過測量化學(xué)品添加前后的樣品情況，能評估諸如淀粉或濕強(qiáng)劑對造紙工藝的影響。

摘要 雙顯恒電位儀：DJS系列是電化學(xué)測試儀器，可廣泛應(yīng)用于電極過程動(dòng)力學(xué)、化學(xué)電源、電鍍、金屬腐蝕、電化學(xué)分析及有機(jī)電化學(xué)合成等方面的研究

摘要 雙顯恒電位儀：DJS系列是電化學(xué)測試儀器，可廣泛應(yīng)用于電極過程動(dòng)力學(xué)、化學(xué)電源、電鍍、金屬腐蝕、電化學(xué)分析及有機(jī)電化學(xué)合成等方面的研究

摘要 雙顯恒電位儀：DJS系列是電化學(xué)測試儀器，可廣泛應(yīng)用于電極過程動(dòng)力學(xué)、化學(xué)電源、電鍍、金屬腐蝕、電化學(xué)分析及有機(jī)電化學(xué)合成等方面的研究

摘要 zeta電位分析儀采用的是電泳光散射原理：帶電顆粒在外加電場作用下進(jìn)行運(yùn)動(dòng)，電荷運(yùn)動(dòng)使散射光產(chǎn)生頻率漂移（多普勒頻移）,采用頻譜漂移分析技術(shù),從而可計(jì)算出顆粒的電泳遷移率和Zeta電位。

摘要 ZETA電位測量儀是簡單、方便而且準(zhǔn)確的電泳遷移率測量儀器，其*的開放式樣品槽設(shè)計(jì)與頻譜漂移分析技術(shù)相結(jié)合，使其具有*的分辨率，足以分辨等電點(diǎn)附近的多峰電泳分布情況。它的革新之處是從根本上消除了傳統(tǒng)Zeta電位測量儀器中固有的電滲誤差的影響，從而使測量變得準(zhǔn)確而方便。

摘要 Zeta電位儀是一種用于測量溶液中顆粒或界面的Zeta電位的儀器。Zeta電位是表征帶電顆粒或界面表面電荷狀態(tài)的物理量，它影響著顆粒或界面的穩(wěn)定性、相互作用和分散性質(zhì)。

摘要納米粒度儀及zeta電位分析儀當(dāng)激光照射到分散于液體介質(zhì)中的微小顆粒時(shí)，由于顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)引起散射光的頻率偏移，導(dǎo)致散射光信號隨時(shí)間發(fā)生動(dòng)態(tài)變化，該變化的大小與顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)速度有關(guān)，而顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)速度又取決于顆粒粒徑的大小，顆粒大布朗運(yùn)動(dòng)速度低，反之顆粒小布朗運(yùn)動(dòng)...

摘要 型號 Horiba 納米粒度及Zeta電位分析儀nanoPartica SZ-100V2 簡介 SZ-100V2 只需單臺(tái)設(shè)備就能表征納米顆粒的三個(gè)參數(shù)：粒徑、Zeta 電位和分子量。

摘要 產(chǎn)品參數(shù)美國MAS超聲粒度儀，美國MAS（MassAppliedSciences）公司成立至今有30余年歷史，是一家專注于超聲電聲法原理粒度及Zeta電位分析儀的研發(fā)和生產(chǎn)型企業(yè)

摘要 產(chǎn)品參數(shù)1)采用專門的電動(dòng)聲波振蕩技術(shù)，該儀器可完成非凡的電動(dòng)測量結(jié)果，從而避免了傳統(tǒng)的微電泳技術(shù)的許多限制和局限

摘要 產(chǎn)品參數(shù)不稀釋：快速、簡易，極少或不需事前樣品準(zhǔn)備！堅(jiān)固耐用，用途廣泛

摘要 產(chǎn)品參數(shù)不稀釋：快速、簡易，極少或不需事前樣品準(zhǔn)備！堅(jiān)固耐用，用途廣泛

摘要 產(chǎn)品參數(shù)1）能分析多種分散物的混合體

摘要 產(chǎn)品參數(shù)Zeta電位胤煌科技，Zeta可以測試：粒徑、Zeta電位、滴定、電導(dǎo)等

摘要 產(chǎn)品參數(shù)美國MAS粒度和Zeta電位測定儀,Zeta可以測試：粒徑、Zeta電位、滴定、電導(dǎo)等

摘要 產(chǎn)品參數(shù)ZetaZeta電位分析儀，Zeta可以測試：粒徑、Zeta電位、滴定、電導(dǎo)等

摘要 產(chǎn)品參數(shù)超聲法原理粒度電聲法Zeta電位分析儀，樣品的高濃度可達(dá)60%（體積比），被測樣品無需稀釋，對濃縮膠體和乳膠皆可直接測量

摘要 產(chǎn)品參數(shù)原液電聲法zeta電位分析儀可同時(shí)測量Zeta電位、PH、電導(dǎo)、溫度等指標(biāo)

摘要 產(chǎn)品參數(shù)美國MAS高分辨納米粒度Zeta電位分析儀精確非均勻樣品分析—包括納米顆粒—?dú)w功于其與顆粒密度無關(guān)的分析

摘要 產(chǎn)品參數(shù)ZetaAcousticZA500高濃度Zeta電位分析儀美國MAS公司成立至今有30余年歷史，專注于超聲電聲法原理顆粒度檢測、Zeta電位分析儀的研發(fā)生產(chǎn)

摘要 產(chǎn)品參數(shù)美國MASZetaAcousticZA500電位分析，應(yīng)用科學(xué)公司發(fā)明電動(dòng)聲波振幅（ESA）技術(shù)用于高百分比之固體Zeta表面測量

摘要 產(chǎn)品參數(shù)ZetaAcousticZA500電位分析儀ZA500，ZetaAcoustic，結(jié)合Zeta電位分析儀、聲波、電聲測量三合一很強(qiáng)，高的分辨率，免稀釋Zeta電位分析

摘要 產(chǎn)品參數(shù)粒度電聲法Zeta電位分析儀，Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術(shù)，無需先測量粒度即可進(jìn)行電位測量

摘要 產(chǎn)品參數(shù)APS100納米粒度儀美國MAS公司成立至今有30余年歷史，專注于超聲電聲法原理顆粒度檢測、Zeta電位分析儀的研發(fā)生產(chǎn)

摘要 Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)以及硬件PALS（PhaseAnalysisScattering

摘要簡要描述：Nicomp Z3000激光粒度儀及ZETA電位分析儀是在原有的經(jīng)典型號380DLS基礎(chǔ)上升級配套而來，采用雪崩二極管（APD）檢測器和大功率激光器，大功率激光器可以增加光強(qiáng)度，APD檢測器更是增加了對微小粒子所發(fā)出信號的探測能力。利用動(dòng)態(tài)光散射理論，粒徑檢...

摘要簡要描述：Nicomp Zeta電位分析儀是在原有的經(jīng)典型號380DLS基礎(chǔ)上升級配套而來，采用動(dòng)態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理檢測分析顆粒的粒度分布，粒徑檢測范圍 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析軟件復(fù)合采用了高斯...

摘要簡要描述：Nicomp Z3000 納米zeta電位分析儀是在原有的經(jīng)典型號380DLS基礎(chǔ)上升級配套而來，采用動(dòng)態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理檢測分析顆粒的粒度分布，粒徑檢測范圍 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析軟...

摘要 納米粒度及Zeta電位分析儀

摘要 全自動(dòng)Zeta電位分析儀

摘要 SurPASS 3固體電運(yùn)動(dòng)分析儀/ 固體表面Zeta 電位儀幫助科研人員在化學(xué)與材料科學(xué)領(lǐng)域內(nèi)改善和調(diào)整表面特性，設(shè)計(jì)新型、特定性質(zhì)的材料，如聚合物、紡織、陶瓷、玻璃、或表面活性劑等。

摘要 原產(chǎn)地： 英國

摘要502型顯微電泳法Zeta電位儀●通過傳統(tǒng)微電泳方法測量膠體顆粒的zeta 電位。與激光光散射法相比，沒有黑盒子。●502的的超顯微鏡設(shè)計(jì)提供了一個(gè)高對比度的圖像，即使是納米粒子。依賴于顆粒對懸浮介質(zhì)的相對折射率不同，可測量小至20nm的顆粒。●高水平的激光光學(xué)系統(tǒng)和...

摘要 Zeta電位儀Zeta電位儀廣泛應(yīng)用于化妝品、選礦、造紙、醫(yī)療衛(wèi)生、建筑材料、超細(xì)材料、環(huán)境保護(hù)、海洋化學(xué)等行業(yè)，也是化學(xué)、化工、醫(yī)學(xué)、建材等專業(yè)的重要教學(xué)儀器之一

摘要 儀器名稱：納米粒度及Zeta電位分析儀型號：MalvernZetasizerZEN3600Mastersizer3000檢測項(xiàng)目：Zeta電位測量

摘要 Zeta電位儀

摘要 ZetaPALS 高靈敏度Zeta電位儀

摘要 簡要說明：粒度范圍：0.3nm～15μm測量功能：分子量、Zeta電位、粒度選件：自動(dòng)滴定儀、介電常數(shù)儀、粘度計(jì)儀器品牌：美國布魯克海文儀器名稱：高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀儀器型號：90Plus/90PlusZeta/ZetaPlus

摘要 納米粒度和Zeta電位儀

摘要 BeNano90Zeta納米粒度及Zeta電位分析儀集成了動(dòng)態(tài)光散射DLS、電泳光散射ELS和靜態(tài)光散射SLS，可以準(zhǔn)確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布，Zeta電位，高分子和蛋白體系的分子量等參數(shù)，廣泛的應(yīng)用于化學(xué)、化工、生物、制藥、食品、材料等領(lǐng)域。