測厚儀標準片又名膜厚儀校準片，專業用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法，是測量已知厚度或組成的標準樣品，根據熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系，來得到標準曲線。之后以此標準曲線來測量未知樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導體等行業使用測厚儀來檢測品質和控制成本起到了很重要的作用。
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膜厚儀（測厚儀）厚度測試 儀上用標準片一般分為單鍍層片，雙鍍層片、多鍍層片、合金鍍層片、化學鍍層片。例如：單鍍層：Ag/xx，雙鍍層：Au/Ni/xx， 三鍍層：Au/Pd/Ni/xx，合金鍍層：Sn-Pb/xx， 化學鍍層：Ni-P/xx。（所有標準片都附有NIST證書），美國Calmetrics公司是專業生產X射線熒光金屬鍍層測厚儀標準片及RoHS標準片，以及對標準片進行重新鑒定，其所有證書都是符合NIST（National Institute of Standards and Technology美國國家標準與技術研究院）標準或ANSI（American National Standards Institute美國國家標準學會）標準。
所有標準片都附有NIST認證證書我們可以根據客戶不同的金屬元素、鍍層結構及鍍層厚度等要求向美國工廠定做合格的標準片，并附有標準片厚度值證書.
歡迎廣客戶前來咨詢，在聯系我的時候請了解清楚自己所需要使用的元素及厚度，以便我們更好的溝通與合作,謝謝！
