J200激光誘導擊穿光譜儀（LIBS）專為處理痕量元素分析而設計-那些需要高靈敏度和準確性的分析，該儀器能夠監測具有分析意義的單個或多個元素，ASI專有的化學計量軟件利用一組高度復雜的統計算法為我們的LIBS儀器增加了材料鑒別能力，Axiom具有簡單直觀的圖形界面，允許多個用戶使用不同的訪問權限來操作儀器軟件，使用J200 LIBS儀器進行可重現的測量以實現可靠的質量控制。
設備特點：
1、激光誘導擊穿光譜儀（LIBS）進行植物分析；
2、用J200 LIBS儀器對紅寶石-沸石中的寶石進行化學成像；
3、激光誘導擊穿光譜法（LIBS）鑒別油漆樣品。
應用須知：
1、使用J200 LIBS儀器進行可重現的測量以實現可靠的質量控制；
2、使用激光誘導擊穿光譜法（LIBS）快速分析采礦樣品；
3、使用LIBS對半導體引線框架上的薄焊料鍍層進行快速鉛（Pb）分析。
J200激光誘導擊穿光譜儀（LIBS）采用*的聚光光學設計可將等離子光耦合到檢測器模塊，此功能可實現高的靈敏度性能，它專為處理苛刻的痕量元素分析而設計-那些需要高靈敏度和準確性的分析，J200儀器簡單地運行準備好的測量配方以進行常規質量控制工作，或者實驗室科學家可以使用該J200儀器進行前沿的元素研究，借助ASI硬件技術，可確保我們的客戶的LIBS測量準確且可重復，通過對各種材料的不同干擾進行廣泛測試的證明。
