三目正置金相顯微鏡XJ-52C
適用于薄片試樣的金相、礦相、巖相、晶體等結構分析和鑒別，電子芯片的檢查或用于觀察材料表面特性，如：劃痕、裂紋、噴涂的均勻性等及紡織纖維、化學顆粒的分析研究。是生物學、金屬學、礦物學、精密工程學、電子學等研究的理想儀器。總放大倍數：50X-800X
產品概述三目正置金相顯微鏡XJ-52C
科研級三目正置金相顯微鏡XJ-52C配有大范圍移動的載物臺、柯拉落射照明系統、長距平場物鏡、大視野目鏡，圖像清晰、襯度好，同時配有偏光裝置，可實現偏光觀察。適用于薄片試樣的金相、礦相、巖相、晶體等結構分析和鑒別，電子芯片的檢查或用于觀察材料表面特性，如：劃痕、裂紋、噴涂的均勻性等及紡織纖維、化學顆粒的分析研究。是生物學、金屬學、礦物學、精密工程學、電子學等研究的理想儀器。總放大倍數：50X-800X
◆性能特點：
1、系統配置了大尺寸、大范圍移動載物臺，適合大工件的檢查。
2、采用大視野目鏡和長距平場物鏡，視場寬闊、平坦,成像清晰。
3、采用“T”型防振結構設計，機械載物臺可慢速或快速移動試樣。
4、整機采用了防霉處理，保護了鏡頭，延長了儀器的使用壽命。
5、配置了偏光裝置并可選配暗場、微分干涉裝置，拓展了功能。。
6、兩路光路自由切換輸出，一路用于觀察，一路連接攝像裝置。
◆典型應用：
1、分析金屬、礦相內部結構組織。2、電子廠PCB板、芯片檢驗。
2、觀察材料表面的某些特性，如：劃痕、裂紋、噴涂的均勻性。
規格參數
一、顯微鏡參數：
| 序號 | 名稱 | 技術參數 |
| 01 | 平場目鏡 | 大視野 WF10X(Φ18mm) |
| 02 | 長距平場物鏡 | PLL5X/0.12、10X/0.25、20X/0.40、40X/0.60、80X/0.80 |
| 03 | 總放大倍數 | 50X-800X |
| 04 | 觀察頭 | 三目鏡,傾斜30?,(內置檢偏振片,可進行切換) |
| 05 | 轉換器 | 五孔 (外向式滾珠內定位) |
| 06 | 粗微調調焦范圍 | 粗微動同軸調焦, 微動格值0.7μm, 粗動松緊可調,帶鎖緊和限位裝置 |
| 07 | 載物臺 | 三層機械移動式尺寸: 250mmX230mm,移動范圍: 154mmX154mm |
| 08 | 光瞳距離 | 53-75mm |
| 09 | 濾色片 | 藍、磨砂 |
| 10 | 落射照明系統 | 6V 20W鹵素燈,亮度可調 |
| 帶視場光欄、孔徑光欄、起偏振片,(黃,藍,綠)濾色片和磨砂玻璃 | ||
| 11 | 儀器重量 | 凈重11.0公斤 毛重12.5公斤 |
| 12 | 儀器尺寸 | 儀器尺寸42X45X45（cm） 包裝尺寸45X50X50(cm) |
二、目鏡參數：
| 型號 T ype | 放大倍率 Magnification | 視場直徑(mm) F.O.V | 外徑(mm) Tube diameter |
| WF10X/18 | 10X | Φ18 | Φ23.2 |
三、物鏡參數：
| 放大倍率 Magnification | 數值孔徑 N.A | 分辨率 R(μm) | 工作距離WD(mm) | 共軛距離Conjugate(mm) | 齊焦距離Parfocus(mm) | 蓋玻片厚度CoverGlass(mm) |
| 5X | 0.12 | 2.30 | 26.1 | 195 | 45 | 無 |
| 10X | 0.25 | 1.10 | 8.80 | 195 | 45 | 無 |
| 20X | 0.40 | 0.70 | 8.60 | 195 | 45 | 無 |
| 40X | 0.60 | 0.55 | 3.70 | 195 | 45 | 無 |
| 80X | 0.80 | 0.42 | 0.96 | 195 | 45 | 無 |
