Nanosurf CoreAFM原子力顯微鏡
CoreAFM智能地聯合原子力顯微鏡的核心部件來實現多功能化與方便使用。正是基于這一根本的設計思路, CoreAFM合理地實現了優化AFM的功能。
高性價比緊湊型科研用原子力顯微鏡
●具有價格優勢的科研用原子力顯微鏡（AFM）
●集成系統，占空間小
●33種模式和功能
●操作使用簡單
CoreAFM智能地聯合原子力顯微鏡的核心部件來實現多功能化與方便使用。正是基于這一根本的設計思路, CoreAFM合理地實現了優化AFM的功能。Nanosurf CoreAFM原子力顯微鏡
CoreAFM融合了新型柔性導向掃描頭，XYZ樣品臺，攝像頭，主動隔振臺和氣流屏蔽于一個一體化小型儀器中，使得這一完整的AFM系統具有的緊湊尺寸。該系統配有專為CoreAFM掃描頭開發的全數字24位控制器。現代化的AFM的所有*功能都是CoreAFM系統的組成部分;要使CoreAFM投入運行，您需要做的就是連接控制器，并插上電源和USB。Nanosurf CoreAFM原子力顯微鏡
易用性
您立刻就會看出設置和操作CoreAFM是多么容易。觀看視頻，了解主要功能的演示，以及如何使用該系統進行測量的簡要教程。
峰值-保護
Isostage的更深層系統集成體現在*的 峰值-保護, 可消除成像過程中的毛刺。盡管Isostage是一種主動隔振系統，但當失真太嚴重時仍會出現毛刺。峰值-保護檢測到這種異常并重新掃描線條以獲得無失真圖像。
功能強大且多樣
采用24位ADC和DAC的電子技術可確保100×100×12μm掃描頭的高分辨率的XYZ三個軸向的驅動，而且具有于懸臂的低噪聲下的力檢測。32種標準的和可選的模式與*兼容的附件使CoreAFM成為從材料研究到生命科學和電化學等應用的工具。以CoreAFM基本的功能為起點，所有可選功能都可以方便快捷地得到擴展。
CoreAFM 成像模式
以下描述為儀器所具備的模式。某些模式可能需要其他組件或軟件選項。詳情請瀏覽產品手冊或直接。
標準成像模式
靜態力模式
橫向力模式
動態力模式 (輕敲模式)
相位成像模式
磁學性能
磁場力顯微鏡
電學性能
導電探針原子力顯微鏡 (C-AFM)
壓電力顯微鏡 (PFM)
靜電力顯微鏡 (EFM)
開爾文探針力顯微鏡 (KPFM)
機械性能
力譜
力調制
硬度和彈性模量
黏附力
展開與拉伸
力曲線成像
刻蝕和納米操縱
電化學原子力顯微鏡(EC-AFM)
包含的測量模式
CoreAFM開箱就可以實現靜態力、動態力、相位成像、磁場力、橫向力、力調制、標準力譜和標準刻蝕。您還可以使用CoreAFM模式工具盒來增強您的測量體驗。
包含的標準模式工具盒
CoreAFM自配置的靜態力模式工具盒, 動態力模式工具盒, 以及 相位成像模式工具盒 可以讓您立即開始使用。根據測量模式的不同，模式組件可以包括樣品、相配的懸臂、附件或它們的組合。
附加的標準模式工具盒
可單獨購買的附加的標準模式工具包包括標準力譜工具盒, 標準刻蝕工具盒, 標準磁力模式MFM工具盒, 標準液體模式工具盒, 橫向力模式工具盒, 和 力調制模式工具盒.
CoreAFM 的應用示例
石墨烯的開爾文探針力顯微(KPFM)
石墨烯屬于二維材料范疇，對新設備和新材料的研發具有重要意義。除了對石墨烯進行原子分辨率成像以了解更多的晶體取向、邊緣和缺陷外，石墨烯的功能特性也備受關注。
在本應用說明中，多層石墨烯采用開爾文探針力顯微鏡(KPFM)成像，使用CoreAFM 研究單個薄片上的接觸電位差變化。
用50x NA0.9物鏡在直立顯微鏡上拍攝的光學圖像。取圖方框:記錄石墨烯KPFM數據和AFM圖像的區域
多層石墨烯薄片是通過石墨的機械剝落和隨后轉移到硅-硅氧化物基體上而產生的。KPFM測量采用單次運行模式，記錄形貌掃描過程中的接觸電位。
用直立顯微鏡定位基體上的薄片，做上標記，使用CoreAFM的頂視攝像頭將相同的薄片放置在微懸臂下，之后記錄石墨烯和KPFM數據的AFM圖像。
多層石墨烯薄片的AFM形貌圖像上的接觸電位差的疊加。
樣品:瑞士蘇黎世聯邦理工學院 Hiske Overweg, Klaus Ensslin,
所有測量均使用配備有來自Nanosensors的PPP-EFMR微懸臂的 CoreAFM系統 進行。處理石墨烯的AFM圖像用的是MountainsMap SPM。
平面外壓電響應力顯微鏡(PFM)在鈮酸鋰上的應用
鈮酸鋰Lithium Niobite (LiNbO3) 是一種光學透明的壓電響應材料，用于壓電傳感器或手機。我們用CoreAFM測試了LiNbO3樣品（PFM03，來自愛沙尼亞TipsNano）。樣品具有規則的域結構，周期為10-μm。自發極化在相鄰域中具有相反的方向。
為了在成像期間測量壓電響應，當光柵掃描樣品上的懸臂時，將7.5V AC電壓施加到微懸臂上。響應于施加的電壓，樣品周期性地膨脹和收縮，與激發頻率同相或反相。雖然測量到的小的RMS粗糙度為0.3 nm，在形貌上卻無法識別這些域結構。然而，在平面外壓電響應中可以容易地識別它們。
