光譜儀
適應性解決方案
HEL PAT-IR （過程分析技術）是一種即插即用技術，是理想化的過程實施監測及反饋控制探測器，它能夠提供全面的集成化解決方案，并滿足多種化學及生物反應器及其應用的特殊需求。
模塊集成化
多通道FT-IR 可與HEL多通道平行反應平臺系統完美兼容。此外，HEL還提供采用同種技術的流動探測版本，也可擴展實時監測及反饋控制功能。
多種環境
PAT-IR專為過程環境而設計，然而緊湊性設計也是其成為適合于實驗室基礎應用的一款理想儀器。其采用的無損分析方法，數秒鐘即可得到實驗數據，十分契合化學過程在線測量的需求。
光纖探頭
在ATR(全反射衰減法)采樣技術與光導光纖的強強組合可以大大擴展紅外光譜的適用范圍。光纖探頭可以實現原位測量，這樣有助于充分利用中紅外光譜儀提供的豐富信息并*發揮這一優勢。
多種適用傳感器可選，包括金剛石ATR探頭，可用于原位分析。該設計結合了雙反射金剛石ATR 傳感器及MIR-鹵化銀纖維的優良性能。
主探頭規格：直徑6mm, 長度300mm, 哈氏合金材質，金剛石視窗，工作溫度-100 to 180°C，壓力300bar
快速連接
PAT-IR 提供專有的快速接頭設計，確保操作簡單及光纖傳感器更換方便，保證測試數據重現性好。利用內置自動化多通道系統，1臺主機多可支持6通道的數據采集及反饋控制。
設計特點
PAT-IR基于布魯克光學原理，設計緊湊，通過中紅外光纖傳感器服務于質量保證、過程控制和過程優化的應用需求。標配光纖傳感器與BQC連接，可選配一6端口多路轉換器。該系統包括一個窄頻帶MCT探測器，以及可持續12小時的液氮冷卻系統。
數據
性能：
光譜范圍：7500 - 720cm-1 （標配*分束器和MCT探測器）
測量速度：可達每秒5次，分辨率8cm-1
分辨率：優于1. 0cm-1（升級為高感光A級繞射變跡技術）
波數重復性：優于0. 04cm-1
波數精確度：優于0.1cm-1
光度精準性：優于0.1% T
探測傳感器：
ATR元素：雙反射硅棱鏡或金剛石棱鏡
傳感器長度：290 mm ± 20 mm（可根據需要定制規格）
傳感器直徑：6mm
傳感器材質：哈氏合金
密封件：特氟龍材質或金剛石惰性焊接
光纖設計：具有堅固的電纜保護管，將鹵化銀光纖放置其中
光譜范圍：根據檢測器材質的不同有所不同
硅棱鏡 3500 - 660 cm-1 (3 - 16μm )
金剛石棱鏡 3500 - 560 cm-1 (3 - 18μm)
工作溫度：
硅棱鏡：-100°C ~130°C
金剛石棱鏡：-100°C ~ 180°C
壓力穩定性
硅棱鏡：大至30bar
金剛石棱鏡：大至300bar
