的 Ultra Scan TM干涉儀
VERTEX 80及 VERTEX 80v均采用的真正準直的 UltraScan干涉儀，該干涉儀可實現*的光譜分辨率。高精度的線性氣動軸承及超高質量的光學反射鏡保證了儀器達到的靈敏度和穩定性。80系列適用于各種極限條件下的研究工作，如：高分辨率測試、超快速掃描、步進掃描及UV擴展譜區的測量。布魯克公司*的數字化 DigiTect TM數據采集技術有效防止外部信號干擾，確保了的信噪比。
臺式真空光譜儀
VERTEX 8Ov的全鑄鋁光學底座及全真空型光學臺設計使譜儀具備了更高的穩定性。大氣中的水汽吸收在真空環境下被消除，靈敏度及穩定性得到進一步提高。在遠紅外和太赫茲波段該特色尤為突出，并意義重大。結合的全自動分束器更換器(BMs-C)，用戶無需打斷真空、通過軟件控制便能實現譜區的切換和擴展。
最寬的譜區擴展
VERTEX 80-80v結合不同的光學器件使譜區可覆蓋太赫茲、遠紅外、中紅外、近紅外、可見
光直至紫外光區。預準直的光學器件和真正準直的 Ultra ScanTM干涉儀，讓擴展譜區和儀器維護變得更加簡單快捷。
的光譜分辨率
VERTEX 80-80V標配的光譜分辨率可達0.2cm-1(切趾函數)，能滿足大多數常壓氣相和常溫下測量需求。針對低溫下的研究工作，如晶向研究、半導體材料或者低壓下的氣相分析
測量， VERTEX80系列可以提供優于0.06cm-1的高分辨率，這是商業化臺式紅外光譜儀
迄今為止達到的分辨率。在可見光區譜圖的分辨能力已可超出300,000：1(見右圖)。
全真空光學臺設計
創新的光學設計成就了具有靈活性、穩定性和擴展外接能力的研究級全真空紅外光
譜儀。其全真空的光學設計，使 VERTEX 80在中紅外、近紅外及遠紅外譜區具備的靈敏度，使用戶無需再擔心水蒸氣吸收會干擾或覆蓋譜圖中極弱的特征信號。該真空譜儀已被應用于納米科學領域，并成功獲取低至千分之一表面覆蓋率的單分子層薄膜的信息。
全自動分束器更換功能
全新推出的全自動分束器更換器(BMS-c)，實現了全軟件操控譜區擴展且無需打斷真空。該
更換器可同時容納多達4種不同類型的分束器。其的功能使 VERTEX 80v真空譜儀占據行業地位，進一步降低了從太赫茲到紫外譜區擴展全程中分束器更換的難度。
靈活性
VERTEX系列具備靈活性，在行業同類儀器中居*。主機周圍右側、前側及左側共有5個出光口，右側及后側共2個入光口。這個特色使得用戶可以同時連接多種附件。例如，儀器后側入光口聯接同步輻射光源，同時右側出光口聯接偏振調制組件(PMA 50)，右前側出光口聯接紅外光纖附件，左前側聯接輻射熱測量儀以及左側聯接 HYPERION系列的傅立葉紅外顯微鏡。其靈活性可見一斑。
