NRI-100紅外光譜折射率計(jì)分光計(jì)器儀器
NRI-100紅外光譜折射率計(jì)
NRI-200色散紅外光譜評(píng)估系統(tǒng)
OD-10高濃度測(cè)定用分光光度計(jì)
ART-25光學(xué)元件測(cè)量裝置
臺(tái)式真空紫外光度計(jì)
NRI-100紅外光譜折射率計(jì)分光計(jì)器儀器
NRI-100紅外光譜折射率計(jì)分光計(jì)器儀器
NRI-100紅外光譜折射率計(jì)
NRI-200色散紅外光譜評(píng)估系統(tǒng)
OD-10高濃度測(cè)定用分光光度計(jì)
ART-25光學(xué)元件測(cè)量裝置
臺(tái)式真空紫外光度計(jì)
NRI-100紅外光譜折射率計(jì)
NRI-200色散紅外光譜評(píng)估系統(tǒng)
OD-10高濃度測(cè)定用分光光度計(jì)
ART-25光學(xué)元件測(cè)量裝置
臺(tái)式真空紫外光度計(jì)
PRS-1受光元件響應(yīng)速度測(cè)量裝置
是測(cè)量光傳感器等受光元件的響應(yīng)速度的裝置。這是表示生成的載波能多快取出外部電路的值，以上升時(shí)間/下降時(shí)間表示。
下降時(shí)間是脈沖輸入光的值10%→90%上升時(shí)間，上升時(shí)間是脈沖輸入光的值90%→10%下降時(shí)間。裝置主要由脈沖LD、樣品室、DC電源、示波器、控制PC構(gòu)成，通過安裝在控制PC上的軟件對(duì)各部分進(jìn)行控制及測(cè)定。
LBC-2激光誘導(dǎo)電流測(cè)量裝置
本裝置是各種太陽能電池和光電轉(zhuǎn)換元件（SiPD、CCD、CMOS）的光電流分布測(cè)定裝置。
采用LBIC【Laser Beam Induced目前態(tài)】的測(cè)定方法。
搭載標(biāo)準(zhǔn)波長520nm激光器，將樣品移動(dòng)到XY，測(cè)量短路電流（Isc）。空間分辨率約為10達(dá)到m
最多50×可以測(cè)量50mm的樣品。
特別是由鈣鈦礦太陽能電池等旋轉(zhuǎn)鍍膜法制作的太陽電池，在樣品面的中心和端部存在均勻性不同的問題，適合評(píng)價(jià)這樣的樣品。另外，在SiPD、CCD、CMOS等領(lǐng)域，也適用于涂層材料等的均勻性評(píng)價(jià)。
BIP-FETS FET測(cè)量裝置
是評(píng)價(jià)場(chǎng)效應(yīng)晶體管特性的裝置。從2個(gè)源極向樣品施加源極（VS）-漏極（VD）間電壓、源極（VS）-門（VG）電壓。
可以測(cè)量漏極電流，進(jìn)行ID–VSD特性測(cè)量和ID－VSG特性測(cè)量。根據(jù)測(cè)量的數(shù)據(jù)，可以算出移動(dòng)度和閾值電壓。
另外，還計(jì)算漏極電流的接通斷開比。
規(guī)格：
待測(cè)樣品 FET（接觸頭等）
施加電壓控制 源極-漏極間電壓、源極-柵極間電壓
施加電壓范圍 0～±200V
最小施加電壓 ±10µV
施加電壓間隔 0.01/0.02/0.05/0.1/0.2/0.5/1/2/5/10V
