BIP-KV100電離測量裝置分光計器BUNKOUKEIKI

BIP-KV100電離測量裝置分光計器BUNKOUKEIKI

BIP-KV 100電離能測量裝置

BIP-KV201電離能測量裝置

BIP-M25電離能測量裝置

PRS-1受光元件響應速度測量裝置

LBC-2激光誘導電流測量裝置

BIP-FETS FET測量裝置

CMM-250載波移動性測量裝置

SGA-25子間隙光吸收光譜測量系統

BIP-KV 100電離能測量裝置

在有機EL和有機薄膜太陽能電池等有機半導體材料中，追求電離能（電離電位）和功函數是非常重要的。

一般來說，離子化能量（離子化電位）/功函數的測定雖然采用了UPS和XPS等光電子能譜，但只能在高真空氣氛下進行測定，有機裝置對氣氛的影響非常大被要求在各種各樣的氣氛氣體下進行測定。

“BIP-KV100離子化能量測定裝置”通過使用光電子能譜（Photoelectron Yield Spectroscopy PYS法），可以在大氣、氮、真空的氣氛下進行測定。通過將分光器及光學系統做成氮氣清除型，可將9.54eV的真空紫外線照射到樣品上。

背景測量和樣品測量可以通過樣品臺滑動機構連續測量，可以在設定的氛圍下（大氣、氮氣、真空）進行測量。

通過使用光電子能譜（PYS法），實現了13位（10fA～100mA）的超高靈敏度。

配備了可安裝市售品的干真空泵及復合分子泵等的端口。

通過選項的測量區域擴展單元，可以容易地對應3.4eV～的測量。

BIP-KV201電離能測量裝置

在有機EL和有機薄膜太陽能電池等有機半導體材料中，追求電離能（電離電位）和功函數是非常重要的。

一般來說，離子化能量（離子化電位）/功函數的測定雖然采用了UPS和XPS等光電子能譜，但只能在高真空氣氛下進行測定，有機裝置對氣氛的影響非常大要求在各種各樣的氣氛氣體下進行測定BIP-KV201電離能測定裝置“通過使用光電子能譜（Photoelectron Yield Spectroscopy PYS法），可以在氮、大氣、真空的氣氛下進行測定。通過將分光器及光學系統做成氮氣清除型，可將9.54eV的真空紫外線照射到樣品上。

在大氣、氮氣和真空下測定離子化能量（離子化電位）和功函數的裝置。

通過將分光器及光學系統做成氮氣清除型，可將9.54eV以上的真空紫外線照射到樣品上。

可以選擇添加手套BOX

在大氣、氮氣和真空下測定離子化能量（離子化電位）和功函數的裝置。

通過將分光器及光學系統做成氮氣清除型，可將9.54eV以上的真空紫外線照射到樣品上。

可以選擇添加手套BOX

BIP-M25電離能測量裝置

在有機EL和有機薄膜太陽能電池等有機半導體材料中，追求電離能（電離電位）和功函數是非常重要的。

一般來說，離子化能量（離子化電位）/功函數的測定雖然采用了UPS和XPS等光電子能譜，但只能在高真空氣氛下進行測定，有機裝置對氣氛的影響非常大要求在各種各樣的氣氛氣體下進行測定BIP-M25電離能測定裝置“通過使用光電子能譜（Photoelectron Yield Spectroscopy PYS法），可以在氮、大氣、真空的氣氛下進行測定。通過將測定波長領域限定為200～400nm（6.2eV～3.1eV），與以往的真空紫外線類型（BIP-KV201）相比，實現了低價格。

規格：

測量波長范圍 6.2 ～3.1eV（200～400nm)