產品簡介:CMI900／950系列X射線螢光測厚儀是一種功能強大的材料涂/ 鍍層測量儀器，可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產品質量控制提供準確、快速的分析。基于Windows2000中文視窗系統的中文版 SmartLink FP 應用軟件包，實現了CMI900/950主機的全面自動化控制。 適用產業：用于電子元件、半導體、PCB印刷電路板、汽車零件、功能性電鍍、連接器、裝飾件。
CMI900／950系列X射線螢光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產品質量控制提供準確、快速的分析。基于Windows2000中文視窗系統的中文版 SmartLink FP 應用軟件包，實現了CMI900/950主機的全面自動化控制。
適用產業：用于電子元件、半導體、PCB印刷電路板、汽車零件、功能性電鍍、連接器、裝飾件。
CMI做為品牌在PCB，五金瑞子連接器及電鍍行業已形成一個行業標準，南華地區90％以上的大型企業都在使用CMI900系列做為檢測鍍層厚度的行業工具 X-熒光鍍層測厚儀CMI900金屬鍍層厚度的精確測量 CMI900系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂／鍍層測量儀器，可應用于材料的涂／鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產品質量控制提供準確、快速的分析。基于Windows2000 中文視窗系統的中文版SmartLinkFP應用軟件包，實現了對CMI900／950主機的全面自動化控制。
CMI900系列X-射線熒光鍍層厚度測量儀技術參數：
A：CMI900X-射線熒光鍍層厚度測量儀，在技術上一直以來都于的測厚行業.CMI900能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體，極薄的浸液鍍層（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定最多5層、15種元素。
B：精確度于世界，精確到0.025um（相對與標準片）
C：數據統計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求；如在分析報告中插入數據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。
D：統計功能提供數據平均值、誤差分析、值、最小值、數據變動范圍、相對偏差、UCL（控制上限）、LCL（控制下限）、CpK圖、直方圖、X-bar／R圖等多種數據分析模式。CMI900／950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；
E：可測量任一測量點，最小可達0.025x0.051毫米樣品臺選擇：CMI900系列采用開槽式樣品室，以方便對大面積線路板樣品的測量。
CMI900系列X-射線熒光鍍層厚度測量儀樣品臺選擇：
CMI900系列采用開槽式樣品室，以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規格的樣品臺供用戶選用，分別為：
一：手動樣品臺
1 標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
2 擴展型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
3 可調高度型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
二：自動樣品臺
1程控樣品臺：XYZ軸自動控制。
2超寬程控樣品臺：XYZ軸自動控制。
CMI950系列采用開閉式樣品室，以方便測定各種形狀、各種規格的樣品。同樣，CMI950可提供四種規格的樣品臺供用戶選用，分別為：
1全程控樣品臺：XYZ 三軸程序控制樣品臺，可接納的樣品高度為150mm，XY 軸程控移動范圍為300mm x300mm。 此樣品臺可實現測定點自動編程控制。
2Z軸程控樣品臺：XY軸手動控制，Z軸自動控制，可接納的樣品高度為270mm。
3全手動樣品臺：XYZ三軸手動控制，可接納的樣品高度為356mm。
可擴展式樣品臺用于接納超大尺寸樣品。
CMI900／950系列X射線螢光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產品質量控制提供準確、快速的分析。基于Windows2000中文視窗系統的中文版 SmartLink FP 應用軟件包，實現了CMI900/950主機的全面自動化控制。
適用產業：用于電子元件、半導體、PCB印刷電路板、汽車零件、功能性電鍍、連接器、裝飾件。
CMI900系列X-射線熒光鍍層厚度測量儀技術參數：
A：CMI900X-射線熒光鍍層厚度測量儀，在技術上一直以來都于的測厚行業.CMI900能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體，極薄的浸液鍍層（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定最多5層、15種元素。
B：精確度于世界，精確到0.025um（相對與標準片）
C：數據統計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求；如在分析報告中插入數據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。
D：統計功能提供數據平均值、誤差分析、值、最小值、數據變動范圍、相對偏差、UCL（控制上限）、LCL（控制下限）、CpK圖、直方圖、X-bar／R圖等多種數據分析模式。CMI900／950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；
E：可測量任一測量點，最小可達0.025x0.051毫米樣品臺選擇：CMI900系列采用開槽式樣品室，以方便對大面積線路板樣品的測量。
CMI900系列X-射線熒光鍍層厚度測量儀樣品臺選擇：
CMI900系列采用開槽式樣品室，以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規格的樣品臺供用戶選用，分別為：
一：手動樣品臺
1 標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
2 擴展型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
3 可調高度型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
二：自動樣品臺
1程控樣品臺：XYZ軸自動控制。
2超寬程控樣品臺：XYZ軸自動控制。
CMI950系列采用開閉式樣品室，以方便測定各種形狀、各種規格的樣品。同樣，CMI950可提供四種規格的樣品臺供用戶選用，分別為：
1全程控樣品臺：XYZ 三軸程序控制樣品臺，可接納的樣品高度為150mm，XY 軸程控移動范圍為300mm x300mm。 此樣品臺可實現測定點自動編程控制。
2Z軸程控樣品臺：XY軸手動控制，Z軸自動控制，可接納的樣品高度為270mm。
3全手動樣品臺：XYZ三軸手動控制，可接納的樣品高度為356mm。
可擴展式樣品臺用于接納超大尺寸樣品。
