我們的單點開爾文探針系統采用非零信號檢測方法對材料的功函數/費米能級進行非常高質量的測量。單點開爾文探針系統
單點開爾文探針系統
單點開爾文探針系統采用經濟的配置使用戶能夠快速記錄非掃描數據，專用軟件允許對所有參數進行全數字控制，以符合被調查樣品的準確要求。記錄的數據很容易輸出到分析軟件。
單點開爾文探針系統KP020對于快速事件可以以每分鐘超過300次工作功能測量的速率記錄工作功能，或者單點開爾文探針系統將跟蹤數天內緩慢的工作功能演變。單點開爾文探針系統KP Mini系統提供了相同的功能，但在我們的300 x 300 mm光學外殼中，占地面積減少了55%。
單點開爾文探針系統應用
有機和非有機半導體
金屬和金屬合金
薄膜和表面氧化物
腐蝕與納米技術
太陽能電池與有機光伏
附加組件
掃描開爾文探針系統
相對濕度控制和氮氣環境室
環境壓力光電發射光譜（APS）
樣品加熱器至250°C
表面光電壓譜（400-1000nm）
表面光電壓（QTH或LED）
用開爾文探針測量功函數
單點開爾文探針系統應用
1-3mev的功函數分辨率
用于升級和附加組件的模塊化系統
經濟、進入系統
USB版本即插即用
非零信號檢測系統
單點開爾文探針系統規格參數
單點開爾文探針系統KP020對于快速事件可以以每分鐘超過300次工作功能測量的速率記錄工作功能，或者單點開爾文探針系統將跟蹤數天內緩慢的工作功能演變。單點開爾文探針系統KP Mini系統提供了相同的功能，但在我們的300 x 300 mm光學外殼中，占地面積減少了55%。
單點開爾文探針系統應用
有機和非有機半導體
金屬和金屬合金
薄膜和表面氧化物
腐蝕與納米技術
太陽能電池與有機光伏
附加組件
掃描開爾文探針系統
相對濕度控制和氮氣環境室
環境壓力光電發射光譜（APS）
樣品加熱器至250°C
表面光電壓譜（400-1000nm）
表面光電壓（QTH或LED）
用開爾文探針測量功函數
單點開爾文探針系統應用
1-3mev的功函數分辨率
用于升級和附加組件的模塊化系統
經濟、進入系統
USB版本即插即用
非零信號檢測系統
單點開爾文探針系統規格參數
| KP020 | KP Mini | |
| Tip material/diameter | Standard 2 mm gold tip (other sizes and materials available on request) | |
| Work function resolution | 1 - 3 meV | |
| Probe translation | 25 mm manual translation | |
| Visualisation | Single-point work function/contact potential difference measurement | |
| Oscilloscope | Digital TFT oscilloscope for real time signal | |
| Test sample | Gold and aluminium test sample | |
| Control supplied | PC control with dedicated software for fill digital control of all parameters | |
| Height regulation | Through DC probe adjustments | |
| Detection system | Off-null with parasitic capacity rejection | |
| Faraday/optical enclosure | 450 mm x 450 mm | 300 mm x 300 mm |
| Optical system | Colour camera with zoom lens and monitor | |
| Warranty | Twelve months | |
單點開爾文探針系統
